氦检校准指导书
检验台接头
准许氦检检验开始检验停止封存样件漏点
5.2标准漏孔校准仪步骤（步骤可参照图示2）
5.2.1氦检仪氦检仪启动后，高低压参数符合正常状态；先将氦检仪面板钥匙开关停止到可编辑状态，在按面板
“setup”键进入“user settings”选项功能键对应的“Enter”键，用面板上上下光标键选择到“Aiarm”选项条，按“功能键对应的Enter”键，用功能键对应的“next”键选择“setpooint”到“-5”按下光标键调节漏率至“-7”；按“save”、按“escape”进入校准状态；
5.2.2将检漏测头对准标准漏孔校准仪瓶底漏点，按下检漏测头上“开始/重新”按钮处3-8秒；当仪器发出“滴声，
长响”，则仪器正常，仪器未发出报警则氦检仪测漏异常，此时需通知设备部调试、检修；
5.2.3校准完毕后重复5.21动作，将漏率重新调整到“-5”；按“save”、按“escape”进入检验状态；
5.2.4校准完成后将氦检仪面板钥匙开关调整到锁定状态，将钥匙带走由总装检验组长保管；将标准漏孔校准仪归还计量室妥善保管；
图示2：
6.记录
6.1校准人员根据校准结果填写记录，校准完成后记录交计量室存档；
侧
面
钥
匙
孔
上
下
光
标
键
检漏测头
标准漏孔校准仪漏
光泽度测试作业指导书
光泽度测试作业指导书 保密等级：保密版本/状态：发文号: 编制_______________ 审核_______________ 批准_______________ 日期____________ 日期____________ 日期____________ 2014-11-3 发布2014-11-3 实施
《光泽度测试作业指导书》修订履历表 1目的及适用范围 本标准规定了用反射计以20°、60°或85°几何条件测定色漆漆膜、塑料、陶瓷、石材、纸张或金属材料等平面制品的镜面光泽度的测试方法。本方法不适用于含金属颜料色漆漆膜的光泽测量。
20°几何条件适用于高光泽材料（即60°镜面光泽高于70单位的材料）； 85°几何条件适用于低光泽材料（即60°镜面光泽低于10单位的材料）。2参考标准 GB/T 9754-2007色漆和清漆不含金属颜料的色漆漆膜的20°、60°和85°镜 面光泽的测定 GB/T 8807-1988塑料镜面光泽试验方法 ISO 2813:2014色漆和清漆不含金属颜料的色漆漆膜的20°、60°和85°镜面光泽的测定 ASTM D523-2014光泽度测试方法 3仪器设备 三角度光泽度测试仪 生产商：深圳市三诺仪器有限公司型号：SN-206085 4测试条件 4.1测试对象：液体漆样 4.1.1试验用底材（底材应是镜面质量的玻璃，厚度为3mm ,尺寸150 x 100mm , 玻璃最小尺寸至少应等于光照区域的长度）； 4.1.2漆膜涂布器（槽深为150 ± 2 pm的块状涂布器或采用其他施涂方法）； 4.2 20 °、60。和85。镜面光泽的测定方法： 4.2.1 60。条件适用于所有的漆膜，但是对于很高光泽和接近无光泽的漆膜，20°或85。也许更适用。 4.2.2 20 °条件在对高光泽漆膜（即60 °镜面光泽高于70单位的漆膜）的情况能给出更好的分辨率。 4.2.3 85。条件在对于低光泽的漆膜（即60 °镜面光泽低于10单位的漆膜）的情况能给出更好的分辨率。 5测试步骤 5.1校准 本设备共有黑色涂料及白色涂料两个校准模块并附有不同角度下的校准参考 值，在测试之前要对照测试条件对该角度（20。或60。或80 °）进行校准以保证测
氦质谱检漏仪应用
Alcatel 氦质谱检漏仪使用和维护 基础 By 姚晓荣, Aug., 2009
Alcatel 氦质谱检漏仪2代产品介绍 Self Contained Units Always the right solution for any leak detection application. Presentation Title —2All rights reserved?2004, Alcatel
Alcatel 氦质谱检漏仪2代产品介绍与第一代产品比较后的改进和特点 ? 1.可检精度:5*10E-12mBar.l/s ? 2.人机友好界面 ? 3.质谱室双灯丝结构 ? 4.氦本底清零功能 ? 5.可选配干泵/油泵做为前 级泵 Touch sceen panel Color graphic interface Recording mode Presentation Title —3All rights reserved?2004, Alcatel
Alcatel 氦质谱检漏仪3代产品介绍 ?ASM310 新功能:? 1.中文界面 ? 2.触摸屏幕 ? 3.重量轻:21Kg ? 4. 具备蓝牙通讯模块 Presentation Title —4All rights reserved?2004, Alcatel
Presentation Title —5 All rights reserved ?2004, Alcatel H2000+型，平板式H2000-C PLUS 型便携式H2000+型标准台式 ILS500 高级系统，基于H2000+型 Alcatel 氢/氮气检漏仪介绍
常用的几种氦质谱检漏方法(1)
书山有路勤为径，学海无涯苦作舟 常用的几种氦质谱检漏方法(1) 氦质谱检漏方法比较多,根据被检件的测量目的可以分为两种类型,一种是漏点型,另一种是漏率型;在实际检验过程中要根据检验的目的选用最合理的方法, 要以被检器件的具体情况而定,灵活运用各种检漏方法。 1、测定漏点型氦质谱检漏方法确定漏点型既是确定要检部件的具体漏点或漏孔的位置,在大部件或大型部件中较为常见,如卫星、导弹弹体、弹头、输气管道、气罐、油罐、锅炉等。 1.1、喷氦法氦质谱检漏方法这是最常用的一种方法,通常用于检测体积相对较小的部件,将被检器件和仪器连通,在抽好真空后,在被检器件可能存在漏孔的地方(如密封接头,焊缝等) 用喷枪喷氦,如图4 所示,假如被检器件某处有漏孔,当氦喷到漏孔上时,氦气立即会被吸入到真空系统,从而扩散到质谱室中,氦质谱检漏仪的输出就会立即有响应,使用这种方法应注意:氦气是较轻的惰性气体,在喷出后会自动上升,为了准确的在漏孔位置喷氦,喷氦时应自上而下,由近至远(相对检漏仪位置) ,这是因为在喷下方时氦气有可能被上方漏孔吸入,就很难确定漏孔的位置; 再者漏孔离质谱室的距离检漏仪反应时间也不同,因此喷氦应先从靠近检漏仪的一侧开始由近至远来进行。 图4 喷氦法检漏示意图 在检测较大部件时要借助机械泵进行真空预抽,就可以提高检漏效率和时间,如图5 所示,喷氦法在检查那些结构比较复杂的,密封口和焊缝又比较多而且挤在一起的小容器时,由于氦喷出后会很快扩散开来,往往不容易准确地确定漏隙所在的部位,要采取从不同角度喷氦,仔细观察反应时间上的差别和将已发现的漏孔用真空封泥暂时封起来等办法,就可以把漏孔逐个检出。
氦质谱检漏仪基本原理简介
氦质谱检漏仪基本原理简介 氦质谱检漏仪是用氦气为示漏气体的专门用于检漏的仪器，它具有性能稳定、灵敏度高的特点。是真空检漏技术中灵敏度最高，用得最普遍的检漏仪器。 氦质谱检漏仪是磁偏转型的质谱分析计。单级磁偏转型仪器灵敏度为lO-9～10-12Pam3／s，广泛地用于各种真空系统及零部件的检漏。双级串联磁偏转型仪器与单级磁偏转型仪器相比较，本底噪声显著减小．其灵敏度可达10-14～10-15Pam3／s，适用于超高真空系统、零部件及元器件的检漏。逆流氦质谱检漏仪改变了常规型仪器的结构布局，被检件置于检漏仪主抽泵的前级部位，因此具有可在高压力下检漏、不用液氮及质谱室污染小等特点．适用于大漏率、真空卫生较差的真空系统的检漏，其灵敏度可达10-12Pam3／s。 (1)工作原理与结构 氦质谱检漏仪由离子源、分析器、收集器、冷阴极电离规组成的质谱室和抽气系统及电气部分等组成。 ①单级磁偏转型氦质谱检漏仪 现以HZJ—l型仪器为例．介绍单级磁偏转型氦质谱检漏仪。 在质谱室内有：由灯丝、离化室、离子加速极组成离子源；由外加均匀磁场、挡板及出口缝隙组成分析器；由抑制栅、收集极及高阻组成收集器；第一级放大静电计管和冷阴极电离规。。 在离化室N内，气体电离成正离子，在电场作用下离子聚焦成束。并在加速电压作用下以一定的速度经过加速极S1的缝隙进入分析器。在均匀磁场的作用下，具有一定速度的离子将按圆形轨迹运动，其偏转半径可计算。 可见，当B和U为定值时，不同质荷比me-1的离子束的偏转半径R不同。仪器的B和R是固定的，调节加速电压U使氦离子束恰好通过出口缝隙S2，到达收集器D，形成离子流并由放大器放大。使其由输出表和音响指示反映出来；而不同于氦质荷比的离子束[(me-1)1(me-1)3]因其偏转半径与仪器的R值不同无法通过出口缝隙S2，所以被分离出来。(me-1)2=4，即He+的质荷比，除He+之外，C卅很少，可忽略。 ②双级串联磁偏转型氦质谱检漏仪 由于两次分析，减少了非氦离子到达收集器的机率。并且，如在两个分析器的中间，即图中的中间缝隙S2与邻近的挡板间设置加速电场，使离子在进入第二个分析器前再次被加速。那些与氦离子动量相同的非氦离子，虽然可以通过第一个分析器，但是，经第二次加速进入第二个分析器后，由于其动量与氦离子的不同而被分离出来。由于二次分离，仪器本底及本底噪声显著地减小，提高了仪器灵敏度。 ③逆流氦质谱检漏仪 逆流氦质谱检漏仪是根据油扩散泵或分子泵的压缩比与气体种类有关的原理制成的。例如，多级油扩散泵对氦气的压缩比为102；对空气中其它成分的压缩比为lO4～106。检漏时，通过被检件上漏孔进入主抽泵前级部位的氦气，仍有部分返流到质谱室中去，并由仪器的输出指示示出漏气讯号。这就是逆流氦顷质谱检漏仪的工作原理。 (2)性能试验方法 灵敏度、反应时间、清除时间、工作真空度、极限真空度及仪器入口处抽速是评价氦质谱检漏仪的主要性能指标。 ①灵敏度及其校准 氦质谱检漏仪灵敏度，通常指仪器的最小可检漏率。记为q L.min，即在仪器处于最佳工作条件下，以一个大气压的纯氦气为示漏气体，进行动态检漏时所能检测出的最小漏孔漏率。所谓“最佳工作条件”是指仪器参数调整到最佳值，被检件出气少且没有大漏孔等条件。所谓“动态检漏”是指检漏仪器本身的抽气系统仍在正常抽气。仪器的反应时间不大于3s。所谓“最小可检”是指检
工序作业指导书
工序作业指导书 文件编号：OQM-7.5-12-2000 分发编号： 版本号：A 受控状态： 编制： 审核： 批准： 目录
第一篇测量定位和放线 第二篇地面与楼面工程 第三篇钢筋工程 第四篇装饰工程 第五篇管道安装 第六篇电气安装工程 第七篇模板工程 第八篇砖砌体工程 第九篇门窗工程 第十篇脚手架搭接作业指导 第一篇测量定位和放线 目录
一、工程定位----------------------------------------------1 二、工程平面定位------------------------------------------3 三、工程标高定位------------------------------------------3 四、工程定位注意的几点问题--------------------------------3 一、工程定位 工程定位，一般包括两个内容，一个是平面位置定位，一个是标高定位。 1、根据场地上建筑物主轴线控制点或其它控制点，将房屋外墙；轴线的
交点用经纬仪投测至地面木桩顶面作为标志的小钉上。这就完成了工程的平面布置定位。 2、根据施工现场水准控制点，推算±0.000标高或根据与±0.000某建筑物，某处标高相对关系，用水准仪和水准尺，将标高定在龙门桩上这就完成了工程的标高定位。 二、工程平面定位 一般用经纬仪进行直线定位，然后用钢尺沿视线方向丈量出两点间的距离。 1、拟建建筑物与原有建筑物的相对定位。一般可根据设计图上给出的设计建（构）筑物与建（构）筑物的相对定位。一般可根据设计图上给出的设计建（构）筑物或道路中心线的位置关系数据，定出建（构）筑物主轴线的位置。 2、根据“建筑红线”及定位桩点的定位，所谓“建筑红线”系“拨地单位在地面上测投的允许用地的边界点的连线，所谓定位桩点系“建筑红线”上标有坐标值或标有与拟建建筑物成某种关系值的桩点。 3、现场建立控制系统定位。是在建筑总平面图上在不同边长组成的方体或矩形格网系统。其格网的交点称为控制点。 三、工程标高定位 设计±0.000标高，有两种表示方法，一是绝对标高，即离国家规定的某一海平面的高度；一是相对标高，即与周围地物的比较高度。 1、绝对标高表示的±0.000的定位。施工图上一般均注明±0.000相当绝对标高的数值，该数值可从建筑物附近的水准控制点或大地水准点引测，并在供放线的龙门桩或施工场地固定建筑物上标出。 2、相对标高表示的±0.000的定位。施工图上一般±0.000的定位。有些沿街建筑或房屋密集处的建筑。往往在施工图上直接标明±0.000的位置与某建筑物或某地物的某处标高或成某数值关系，在±0.000定位时，就可由该处进行引测。 四、工程定位注意的几点问题 1、为防止仪器不均匀下沉对测角的影响，经纬仪的三脚架应安置稳固，仪器安妥后，不得用于扶摸三脚架和基座，走动时，要稍离三脚架，防止碰动。 2、为减少对中不准对测角的影响，应仔细做好对中工作。一般规定边长
氦质谱检漏仪使用说明剖析
氦质谱检漏仪使用说明书 资产编号：型号：ZQJ-542 一、设备组成及工作原理 1、设备组成框图 2、设备工作原理 检漏仪内部组成：氦质谱检漏仪主要由分子泵、质谱室、组合阀体，机械泵以及控制电路板等组成。 检漏仪的工作原理：氦质谱检漏仪是根据质谱仪学原理，用氦气作为搜索气体制成的气密性检测仪器。 ZQJ-542检漏仪采用180度磁偏转质谱室，钨制灯丝发射出来的电子经过加速进入离化室，在离化室内与残余气体分子和经被检件漏孔进入离化室的氦气互相碰撞使其电离成正离子，这些离子在加速电场作用下进入磁场，由于洛伦兹力作用产生偏转，由于不同质量数（m/e）的离子其偏转半径不同，这样就将不同的离子分离开了。由于磁场参
数是固定的，只有调节加速压力就可以改变氦离子的偏转半径，使氦离子正好通过隔离板上的窄缝打到放大器入口，这样就使氦离子（m/e=4）与其他离子分开了。氦离子流正比于容器中氦分压。因此，对氦离子的测量可以用来确定被检件的漏率。 二、设备工作外部条件 氦质谱检漏仪电源电压220V 频率50HZ 额定功率2000W。仪器应安装在符合仪器使用的环境要求的场所，特别是仪器的电源插座，应符合要求，要有良好的地线，左右要留有30CM的通风间距。 放置好检漏仪，以避免仪器有倾斜或倾倒的危险。 检漏仪的底部有安装孔，可以将其固定在桌子或支架上。 在仪器运行前要确保真空泵中的机械泵油是否足够，机械泵油必须用专用的针对机械泵型号的油。 三、设备工作外部条件接通操作 氦质谱检漏仪 图1 检漏仪的机械泵有足够的机械泵油；保证机体内分子泵、机械泵、真高空组件各连接顺畅；电源线线路没有破损，有良好的接地。 检漏仪要放平稳，不能倾斜，检漏仪底面要有一层防静电布。
氦原子基态能量实验及其运用变分法和微扰法两种方法比较
氦原子基态能量实验及其运用变分法和微扰法两种方法比较 【摘要】： 对于由单电子粒子组成的两体问题，如氢原子或类氢离子，其基态能量本征值以及相应的波函数是可以通过薛定谔方程解析求解的，而且也很容易求解。但对于多电子体系，即使是像氦原子和氢分子这样最简单的多电子体系，精确求解也是十分困难的。因此，在量子力学中往往采用近似的方法来求解这类问题。 本文将以氦原子基态能量(实验测定值为-79eV)的求解为例，通过运用变分法和微扰法两种方法进行比较来解决多电子体系的基态能量求解问题。 【关键词】：氦原子 基态能量 变分法 微扰法 【引言】： 在量子力学中，体系的能级和定态波函数可以通过求解定态薛定谔方程得到。像一维无限深势阱、一维线性谐振子及氢原子等都能精确求解，但由于体系的哈密顿算符通常比较复杂，大多问题不能精确求解， 必须采用近似方法。本文就氦原子基态能量分别用变分法和微扰法进行计算并加以比较。 【正文】： 一、变分法的基本思想 设体系的定态薛定谔方程为 ?,0,1,2n n n H E n ψψ==??? （1-1-1） 式中?H 的本征值012n E E E E <
氦质谱检漏仪操作规程
氦质谱检漏仪操作规程 氦质谱检漏仪菜单介绍 1启动：将检漏仪用专用堵头堵住，接通电源，按下电源到“—”的位置，仪器加电。设备显示启动会出现厂商的logo图案。数秒后会进入监测画面包括启动已用时间（显示从加电到当前所用的时间）；检漏口压力（检漏口的压力）；排气口压力（分子泵排气口压力）；报警阀值（显示报警设定值）。启动完成后会显示检漏模式（指示当前捡漏的工作状态）；检漏口压力；排气口压力；报警音量（显示报警时喇叭的音量）报警阀值；漏率（显示当前质谱室的本地漏率）；待检产品编号（点击后面数字可以对检漏产品进行编号。禁止输入空格）。如果有异常则会自动进入报警窗口（显示报警代码和具体信息）。注意：如果仪器是第一次使用或者停用很久时间，质谱室内残存气体比较多可能导致启动时间较长，启动时最好不要让检漏口与大气直通，建议使用专用堵头堵住。 2参数设定：在待机下选择点击“扳手螺丝刀”图标进入密码验证，点击密码区域，进入密码验证。密码分为低级密码和高级密码。不同密码等级进入的画面会有所不同，低级密码是客户进入参数设置区域，高级密码是厂家进入参数设置区域（不建议客户进入修改）。输入正确低级密码进入系统设置分别为报警阀值；捡漏模式；检漏精度；滤波方式；校准设置；音量；显示范围；单位；通讯；校零模式；SYS继电器;语言设置。输入正确高级密码进入系统设置分别为机器因数；高压设定；分子泵设定；背景抑制；报警记录。 3报警阀值设定：进入报警阀值图标会出现，会出现报警阀值（设定此值后如实际漏率值大于此值的报警值则报警）；报警延时（设定秒数可以延时报警。）报警继电器（禁止输出；发生报警不允许输出继电器动作。允许输出；发生报警允许输出继电器动作。）；当前使能通道（选中通道如报警阀值2后，则系统设置中“数据查看”中漏率值一列为此通道报警阀值2所设的值，“数据查看”测试结果）根据实际漏率值大于此通道报警阀值2值则为NG,小于此道通值则为ok。 4音量设定：按下音量选项进入画面有音量；模式（选择普通或渐强）、停止时报警(禁止或允许)等功能。 5仪器校准：仪器在停机或待机状态下进入系统设置选项，按下“校准设置”，进入选择标漏类型（外置标漏不带开关、外置标漏带开关、内置标漏、外置标漏时，建议使用外置标漏不带开关进行标定，内置标漏是使用检漏仪内部子标漏进行标定）；标漏漏率（根据校准标漏上标称的数值，输入标漏值即可，注意标漏单位。）；漏孔测试：开、关，设置为“开”时，内置标漏定标结束后按开始键，仪器自动检测内置标漏值，验证定标数值。真空定标按“真空标漏”进行真空标漏自动校准。吸枪定标时按“吸枪校准设定”进入参数设置，第一行数字为吸枪定标的标漏值，吸枪定标时，将此值设定为标准漏孔值。“吸枪堵压力”检测吸枪堵得标准值。“吸枪漏压力”检测吸枪漏的压力值。按“吸枪标漏”进行标定，点击会进入定标中，先将吸枪对准漏孔，待信号值稳定后按“采集信号”按钮，然后将吸枪远离漏孔，待本底值稳定，即“信号”显示数值稳定，按“采集本底”按钮，吸枪标定结束。 6滤波方式设定；仪器在停机或待机状态下进入系统设置的选项，按下“滤波方式”，进入选择滤波方式，有动态滤波（动态滤波精度高，但响应速度略慢）；静态滤波（静态滤波波动稍大，但速度快。） 7捡漏模式：仪器在停机或待机状态进入系统设置的选项，按下“捡漏模式”，进入画面。捡漏模式（真空模式、吸枪模式。真空模式中有喷氦模式、背压模式，真空模式为负压检漏，吸枪模式为工件正压检漏）。停止模式（停止放气、停止不放气，停止时检漏口是否放气）。灯丝模式（auto、灯丝1、灯丝2，改变参数后仪器须关机重启生效）。检测周期（设置为“0”时，仪器检测时间不受限制，手动控制停止；设置为其它数字时，时间到仪器自动停止。）精简压力（检漏仪开V4阀时检漏口压力）。延时记录（仪器处于主界面延时多长时间且仅记录一次数据，检测周期非零时必修不小于延时记录时间）。 8校零模式：仪器在停机或待机状态下进入系统设置选项，按下“校零模式”，进入。校零模式（自动：检漏阀打开后等待时间到后，系统自动进入校零模式，自动本底扣除。手动：需按面板上的“调零”才可以进入本底扣除方式。时间：在自动模式下，等待此时间后进入本底扣除方式。）校零量级（进入本底扣除模式后，零点显示值为扣除本底前值的指数减去此设定值。）零点模式（量级控制：进入调零模式后，零点显示值为扣除本底前值得指数减去校零量级；设定值：进入调零后，零点显示值为设定值）。 9机器因数：仪器在停机或待机状态下进入系统设置的选项，有“真空模式”和“吸枪模式”通过点击数字改变参数。真空模式和吸枪模式机器因数仪器默认为“1”。 10单位设定：仪器在停机或待机状态下进入系统设置的选项，按下“单位设定”有“漏率”单位和“真空单位” 11通讯设定：仪器在停机或待机状态下进入系统设置的选项，按下“通讯设定”，选择串口1或串口2.波率特性等。 12：输出设定：仪器在停机或待机状态下进入系统设置的选项，真空度继电器（根据采集检漏口真空度与设定输出开关量）；真空度继电器2；真空度继电器输出使能：是否让真空度的状态量在I/0输入输出接口输出。 13：时间设定：调节日期 14：密码设定：密码设定，输入新设置的低级密码。 15：检漏精度：仪器在停机或待机状态下进入系统设置的选项，按下“检漏精度”分为自动、高、中、低，选择不同的精度仪器开启不同的检漏阀，无特别需求建议设置“自动” 16显示范围：仪器在停机或待机状态下进入系统设置的选项，按下“显示范围”，真空模式、吸枪模式后面的数值为模式下的下限值。检漏精度（数值是显示漏率小数点后面几位数。 17SYS继电器：仪器在停机或待机状态下进入系统设置的选项，按下“SYS继电器”继电器输出使能（禁止、允许仪器漏率报警和状态输出控制）；模拟量输出方式（线性、指数，仪器漏率输出方式） 18除此之外还有语言设置、外部控制等内容。 氦质谱检漏仪操作步骤 1检漏（喷吹法）：仪器在停机或待机状态下，按下“开始”键，等待仪器给工件抽真空，进入抽空中，如果V1阀打开了，可以对工件喷氦检大漏；V3阀打开，可以对工件检中漏，V4阀打开，可以对工件检微漏。，进入检漏主界面，此时可以对被测工件进行喷氦检漏，漏率的数值在漏率指示器显示。点击屏幕右上角触摸键“图形”进入漏率曲线画面。 2标漏校准：将标漏口，仪器在待机状态下进入系统设置的选项，按下“校准设置”，进入如下，根据校准标漏上显示的数值，输入标漏值即可，注意标漏的单位Pa·m3/S。输入完成后按“返回”键设定别的参数，也可按下“真空标漏”进行标漏校准进入真空模式标定。（注：吸枪校准按“吸枪校准设定”进入参数设定后，按“吸枪标漏”进行吸枪校准。）等待机器自动采集信号、采集本底然后定标完成回到待机画面。漏孔测试设置为“开”时，返回待机状态后第一次按“开始”键，是对内置标漏进行检测验证。 3系统状态：点击屏幕的左下角“齿轮”图案触摸键，进入系统状态界面，查看检漏仪当前参数设置、各项指标状态。 4数据管理：进入参数设置后，按“数据查看”图标进入画面如下：数据下载：在检漏口的外部接口USB 接下U盘，确认后即可对检漏仪数据进行下载。数据删除按下删除键进行删除 5调零：仪器处于检漏状态，可按下“调零”键可扣除当前本底信号，使仪器指示的读书为绝对漏率 6停止：在待机或检漏状态下。按下“停止”键即可使仪器进入停止状态，长按设定键可打开放气阀对检漏口放入空气，以便更换检测的工件。 7：停机断电:检漏完成后确定仪器显示停机或待机状态下，将检漏口有专用堵头堵上即可，按下机箱后的电源按钮关闭电源，拔出电源插头。
氦原子基态的Schrodinger方程的严格解
氦原子基态的Schrodinger 方程的严格解 物理0701班徐振桓 摘要 本文利用了超球坐标的方法求解了氦原子基态的Schrodinger 方程的严格解 ，得出了氦原子的基态能量和波函数。 关键词 超球坐标 氢原子基态 Schrodinger 方程 严格求解三体或三体以上体系的Schrodinger 方程是量子理论工作者非常感兴趣的重要 课题。原因在于，可得到体系的真实波函数，进而可研究电子相关等许多物理和化学问题。自从量子力学建立，人们就期待着这一问题的解决，直到将超球坐标用来描写多粒子 Schrodinger 方程，多体问题才变得可能解决。在这条道路上，前人已做了许多努力，但仍存在一些问题。 本文给出一个新的方法来严格求解氦原子的基态能量和波函数。这一方法也可用于氦原 子激发态和其它原子能态的计算，原则上可用之求解任意多体问题。本文计算证明了 Schro dinger 方程可以描写三粒子体系，可作为严格求解多体 Schrodinger 方程的一个范例。 对氦原子，原子单位下的非相对论Schrodinger 方程为： 2 1231231 11(,,)(,,),2 j i j i i i j i ij z z r r r E r r r m r ψψ=
外观检验标准作业指导书Rev.B
外观检验标准作业指导书 1. 目的和范围 为来料、半成品及成品外观检验标准检查提供工作指引。 2. 定义: 2.1 AQL: 可接收的质量水平 2.2 Plan C=0: 零缺陷(样本经检验后是零缺陷方可接收) 2.3 异常通知单: 用于记录和判定、处理不合格品的单据 2.4 特采通知单: 此表格用于裁定那些不符合特定规范的产品 2.5 MRB: 物料评审委员会 2.6 SCAR: 外部供应商纠正措施要求 2.7 ICAR: 内纠正措施要求 3. 职责 3.1 检验员: 负责抽样和检验,标识和记录。 3.2 质量工程师: 负责确定外观检验标准，并对不合格品进行判断及提供处理结论。 4. 授权 4.1 质量工程师 4.2 质保经理 5.程序 5.1 检验员在接到检验通知后，确认产品名、数量、及材质正确后执行抽样检验。 5.2 外观检查首先参照相应部件的图纸或签样检查产品结构与要求是否一致，然后按 以下5.3外观要求允收标准进行检验。
外观检验标准作业指导书
外观检验标准作业指导书Array 6. 参考程序 6.1 进料检验指导书WI-5001 6.2 巡检作业指导书WI-5003 6.3 终检作业指导书WI-5002 6.4 驻供应商检查员出货检验及品质稽查指导书WI-5004 7. 表格/记录 7.1 来料检验记录FM-0013-XXXX 7.2 巡检记录FM-0012-XXXX 7.3 成品检验记录FM-0014-XXXX
文档从网络中收集，已重新整理排版.word版本可编辑.欢迎下载支持. 8. 记录保存 所有记录保存期参考《质量记录控制程序》中规定
喷涂检验作业指导书
深圳市劲丰胜科技有限公司文件名称：喷涂检验指导书 文件编号：JFS-WI-041 版本/版次：A/0 生效日期：20010-10-15 编制：审核：批准：
目的 为了有效控制加工过程产品符合客户质量要求。特制定此规程。 1.范围 适用于本公司所有喷涂件的检验。 3.职责 3.1品质检验：负责按要求检验产品，并做记录； 3.2品管控制：负责对检验报告的内容进行确认和放行审批。 4.内容 4.1检验员根据每日生产指定单，对相应产品按客户图纸要求、技术规范、《抽样检查方案》 实施抽检，结果记录于《喷涂制程检验报表》 4.2表面等级： A级表面：客户能直接正视或开前门能直接正视的外部表面、商标文字和图案印面 B级表面：客户不明显看到的外部表面和开前门能直接正视内部表面 C级表面：客户不易察看到的内部和外部表面 4.3检验环境： 4.3.1光度：200—300LX（相当于40W日光灯750mm远） 4.3.2检验者目视方向应与光源方向成45°。目视方向与待检表面之间的距离如下： A级表面为400mm；B级表面为500mm；C级表面为800mm。 4.4物性品质标准： 4.4.1颜色： 4.4.1.1以客户标准样板为准。 4.4.1.2在自然光线下目测如有明显色差则为不良，如有轻微色差则为合格。如目测有轻微色差但不能确定，用色差仪测试。（喷涂测平光样板，须准备与产品相同材料、相同加工条件且同时加工出的平光样板3块以供测试。样板大小为80mm×125mm），▲E﹤0.8则为不良。桔纹/砂纹/洒点大小、密度：以客户标准样板为标准目测，目测有明显差异为不良。 4.5涂层厚度：在距喷涂层边缘大于10mm的不同区域取6个以上位置且用电脑涂层测厚仪测量其涂层厚度，按图纸要求判断。如图纸无要求，应按相应的涂料标准判断，一般测量值在一下范围之内为不良。 A：喷粉厚度要求为平光粉：50--120UM B：喷漆厚度要求底面漆：30--40UM。 砂纹粉：60—120UM 底面漆加洒点：40—60UM 桔纹粉：80—140UM 4.6附着力 检验方法：每批次取与批次产品相同材料、相同加工条件且同时加工出的样板3块以供测试。样板大小为80mm×125mm。如任一块样板测试不良，则判此批产品为不良。用百格刀在样板涂层表面以1.0mm为间隔从垂直交叉方向切划下100个方格，切割力一定要切透涂层到金属表面（若涂层厚度超过100UM，则切线间距应为2mm）。用3M透明胶带沿一切划方向贴在有方格的涂层上（胶带不能起皱），用手指压紧胶带使其与涂层紧密接触（透过胶带可见涂层颜色），5分钟后以涂层表面为45°角方向迅速拉起胶带。 判定标准：以1个方格中超过20%面积被撕下判定为不良。 4.7抗化学溶剂性 检验方法：将折叠成8层的白色棉质软布（或脱脂棉）捆绑在端面直径为6.3mm、长40mm 的圆柱形木棒的一端。再将99%分析纯酒精倒于木棒的端面在白色软布（或脱脂棉）上。室温
氦质谱检漏仪操作规程
8校零模式：仪器在停机或待机状态下进入系统设置选项，按下“校零模式”，进入。校零模式（自动：检漏阀打开后等待时间到后，系统自动进入校零模式，自动本底扣除。手动：需按面板上的“调零”才可以进入本底扣除方式。时间：在自动模式下，等待此时间后进入本底扣除方式。）校零量级（进入本底扣除模式后，零点显示值为扣除本底前值的指数减去此设定值。）零点模式（量级控制：进入调零模式后，零点显示值为扣除本底前值得指数减去校零量级；设定值：进入调零后，零点显示值为设定值）。 9机器因数：仪器在停机或待机状态下进入系统设置的选项，有“真空模式”和“吸枪模式”通过点击数字改变参数。真空模式和吸枪模式机器因数仪器默认为“1”。 10单位设定：仪器在停机或待机状态下进入系统设置的选项，按下“单位设定”有“漏率”单位和“真空单位” 11通讯设定：仪器在停机或待机状态下进入系统设置的选项，按下“通讯设定”，选择串口1或串口2.波率特性等。 12：输出设定：仪器在停机或待机状态下进入系统设置的选项，真空度继电器（根据采集检漏口真空度与设定输出开关量）；真空度继电器2；真空度继电器输出使能：是否让真空度的状态量在I/0输入输出接口输出。 13：时间设定：调节日期 14：密码设定：密码设定，输入新设置的低级密码。 15：检漏精度：仪器在停机或待机状态下进入系统设置的选项，按下“检漏精度”分为自动、高、中、低，选择不同的精度仪器开启不同的检漏阀，无特别需求建议设置“自动” 16显示范围：仪器在停机或待机状态下进入系统设置的选项，按下“显示范围”，真空模式、吸枪模式后面的数值为模式下的下限值。检漏精度（数值是显示漏率小数点后面几位数。 17SYS继电器：仪器在停机或待机状态下进入系统设置的选项，按下“SYS继电器”继电器输出使能（禁止、允许仪器漏率报警和状态输出控制）；模拟量输出方式（线性、指数，仪器漏率输出方式） 18除此之外还有语言设置、外部控制等内容。
氦质谱检漏技术与仪器的相关技术指标
书山有路勤为径，学海无涯苦作舟 氦质谱检漏技术与仪器的相关技术指标 氦质谱检漏仪的工作原理 氦质谱检漏仪是一种用来检漏的对比仪器。它是一种质谱分析仪,检漏时以氦气作为示踪介质,当氦气与其它气体一同进入仪器内部时即被电离,并在质谱室的电磁场中作圆周运动;由于各种气体的质量不一样,因而形成许多束圆半径不一样的电子流,其中只有氦子流可被接收,经放大后在仪器的输出表上显示一个电量,进入的氦气越多,显示的电量越大。工件检漏时,可以用不同的方式将工件与检漏仪连接在一起,使氦气通过工件漏孔并进入检漏仪。检漏仪上只有电量显示,但相应的电量相当于多大的漏率还不知道。为此,可以用一支已知漏率的漏孔(习惯上称作标准漏孔) ,将它与检漏仪连接在一起,使通过标准漏孔的氦气也在检漏仪上有一电量显示。以标准漏孔显示的电量作为基准,与工件检漏时在检漏仪上显示的电量作比对,再参照其它因素,按一定的公式即可算出工件的漏率。这是确定工件漏率的基本方法。但有一点应特别强调,被检工件的漏孔所处的检漏条件应与标准漏孔所处的检漏条件相同,这样它们在检漏仪上显示的电量才好进行比对, 以计算工件漏率的大小。 检漏技术与仪器的相关技术指标 随着航天技术的发展,检漏技术也在不断取得进步。目前比较成熟的检漏方法有喷吹法、氦罩法、充压法、吸枪法、探漏盒法、累积检漏法、背压法及四极质谱检漏法。各种方法都有其特点及适用条件。 在检漏实践中,由于我们所遇到的被检器件的结构、大小、要求等各不相同,如何根据这些特定的条件选择检漏方法,这是检漏工作人员必须解决的首要问题。因此,了解各种检漏方法及其特点,熟练地运用它们来满足被检器件的检漏要
常见的四种氦质谱检漏法的检测原理、优缺点及检测标准
常见的四种氦质谱检漏法的检测原理、优缺点及检测标准 氦质谱检漏法是利用氦质谱检漏仪的氦分压力测量原理，实现被检件的氦泄漏量测量。当被检件密封面上存在漏孔时，示漏气体氦气及其它成分的气体均会从漏孔泄出，泄漏出来的气体进入氦质谱检漏仪后，由于氦质谱检漏仪的选择性识别能力，仅给出气体中的氦气分压力信号值。在获得氦气信号值的基础上，通过标准漏孔比对的方法就可以获得漏孔对氦泄漏量。 根据检漏过程中的示漏气体存贮位置与被检件的关系不同，可以将氦质谱检漏法分为真空法、正压法、真空压力法和背压法，下面分别总结了这四种氦质谱检漏法的检测原理、优缺点及检测的标准。 真空法氦质谱检漏 采用真空法检漏时，需要利用辅助真空泵或检漏仪对被检产品内部密封室抽真空，采用氦罩或喷吹的方法在被检产品外表面施氦气，当被检产品表面有漏孔时，氦气就会通过漏孔进入被检产品内部，再进入氦质谱检漏仪，从而实现被检产品泄漏量测量。按照施漏气体方法的不同，又可以将真空法分为真空喷吹法和真空氦罩法。其中真空喷吹法采用喷枪的方式向被检产品外表面喷吹氦气，可以实现漏孔的精确定位; 真空氦罩法采用有一定密闭功能的氦罩将被检产品全部罩起来，在罩内充满一定浓度的氦气，可以实现被检产品总漏率的测量。 真空法的优点是检测灵敏度高，可以精确定位，能实现大容器或复杂结构产品的检漏。 真空法的缺点是只能实现一个大气压差的漏率检测，不能准确反映带压被检产品的真实泄漏状态。 真空法的检测标准主要有QJ3123-2000《氦质谱真空检漏方法》、GB /T 15823-2009《氦泄漏检验》，主要应用于真空密封性能要求，但不带压工作的产品，如空间活动部件、液氢槽车、环境模拟设备等。 正压法氦质谱检漏 采用正压法检漏时，需对被检产品内部密封室充入高于一个大气压力的氦气，当被检产品表面有漏孔时，氦气就会通孔漏孔进入被检外表面的周围大气环境中，再采用吸枪的方式检测被检产品周围大气环境中的氦气浓度增量，从而实现被检产品泄漏测量。按照收集氦气方式的不同，又可以将正压法分为正压吸枪法和正压累积法。其中正压吸枪法采用检漏仪吸枪对被检产品外表面进行扫描探查，可以实现漏孔的精确定位; 正压累积法采用有一定密闭功能的氦罩将被检产品全部罩起来，采用检漏仪吸枪测量一定时间段前后的氦罩内氦气浓度变化量，实现被检产品总漏率的精确测量。 正压法的优点是不需要辅助的真空系统，可以精确定位，实现任何工作压力下的检测。 正压法的缺点是检测灵敏度较低，检测结果不确定度大，受测量环境条件影响大。
氦检漏卤素检漏
一、氦检漏 TSG R0004-2009 《固定式压力容器安全技术监察规程》规定，对于介质毒性程度为极度、高度危害或者设计上不允许有微量泄漏的压力容器，应当进行泄漏试验。因此，泄漏检测已经成为该类压力容器普遍使用的无损检测方法之一。氦质谱泄漏检测技术具有检漏灵敏度高、可靠性好、对漏孔既能定位又能定量等优点，从而在压力容器泄漏检测中得到了广泛的应用。氦质谱检漏按照检测过程中氦气的流向，可分为正压检漏（氦气流出被检容器）和真空检漏（氦气流进被检容器）两种情况。 １.正压检漏 氦质谱正压检漏通过在被检容器中充入一定压力的空气和氦气的混合气体，然后在容器压力较低的外侧采用一定的方式检测泄漏的氦气，从而达到对容器局部或整体、定位或定量的检漏目的。常见的氦质谱正压检漏方法主要有吸枪直测法和氦罩积累法。 （1）吸枪直测法 吸枪直测法是指用吸枪在大气中从压力容器被检部位直接获得示漏氦气，从而对压力容器进行检漏的一种氦泄漏检测方法。吸枪直测法检漏示意图见下图。 １．氦质谱检漏仪２．吸枪３．被检容器４．氦气瓶 该法为一种定性、定位检测技术，用以探测泄漏并确定其位置，检测灵敏度可达10－ 7Pa·m３/s。扫查距离、速度以及不同操作人员对吸枪直测法的检测灵敏度均有一定程度的影响。吸枪直测法一般用于容器焊缝、密封面等部位的泄漏检测，也可用于整体检漏后漏孔的定位。 （2）氦罩积累法 如果被检容器的泄漏率很小，用吸枪直测法难以检测到泄漏时，则需采用氦罩积累法进行检漏。相对于吸枪直测法的定性检测而言，氦罩积累法通过一定的积累时间，可以实现被检容器的定量微漏检测。氦罩积累法可以对被检容器的局部或整体进行泄漏检测。如果容器较小，用氦罩将其整个罩住，就可以对容器整体泄漏情况进行检测。但对于焊缝、密封面较多的容器，则无法同时实现漏孔的定位。若容器较大而且结构复杂，则需用多个小氦罩将被检部位罩住，这样既可以实现容器整体泄漏情况的检测，还可以对具体的泄漏位置以及泄漏率进行判定。如果将氦罩抽成真空，其检测灵敏度可以提高2～3个数量级。氦罩积累法检测示意图见下图。在实际检漏过程中，根据不同的情况，氦罩可采用金属容器、塑料简单包封等形式。 1.氦质谱检漏仪 2.被检容器 3.氦罩 4.氦气瓶
压力容器氦质谱检漏法介绍
被检件漏孔 检漏方法介绍 压力容器氦质谱检漏法介绍 一、概述 检漏的目的是确定被检件漏孔的位置和漏率，这些目的是通过采用一些标准的检漏方法实现的。采用什么方法要视被检件的结构、检漏的经济效益及检漏系统的性质来决定。根据不同的检漏目的，基本上有吸入法、喷吹法、背压法、真空箱法等几种常用检漏方法： 1、吸入法——确定漏孔位置 又称吸枪检漏，如图1-5，将专用吸 枪联接在仪器检漏口上，被检件则充入规 定压力的氦气（纯氦气或一定比例含氦的混合气）。检漏时，让吸枪沿可疑漏孔处慢慢移动，若被检件有漏孔，氦气自漏孔漏出，被吸枪吸入送至仪器的质谱管而被检测。 吸入法检漏灵敏度相对喷吹法要低，但是其检漏口真空主要是由吸枪流量决定的，所以不受被检件容积的限制，适合检测大的容器。 2、喷吹法——确定漏孔位置 该方法是将被检件接在检漏仪的检漏口，用仪器的真空系统对其抽真空并达到真空衔接与质谱管沟通，然后用喷枪向可疑漏孔喷吹氦气。当有漏孔存在时，氦气就通过漏孔进入质谱管被检测。下图是喷吹法原理示意图。 喷吹法检漏的灵敏度高，质谱管不 吸枪检漏仪 装有氦气的 压力容器 装有氦气的压力容器 喷枪 被检件 漏孔 检 漏 仪
易受污染，但是检大容器时可能有真空抽不下来的情况，可能要加辅助真空设备。 3、 背压法——测总漏率 电子元器件进行气密性检测时常 用背压法。检漏前用专用加压容器向被 检件压入氦气（由压力和时间控制压入 的量），然后取出被检件，吹去表面吸 附氦后放入专用检漏罐中，再将检漏罐 联接到检漏仪的检漏口上，对检漏罐抽 真空，实施检漏。若器件有漏，则通过 该漏孔压人的氦气又释放出来进入检 漏罐，最终到达质谱管。用这种方法测 得的漏率也是总漏率。图1－7为背压 法检漏示意图。 4、 真空箱法 真空箱法是一 种比较复杂的方法。检漏时先将工件如上图放入真空箱中，关闭V1、V2，打开V3使用真空箱预抽系统对真空箱抽真空，如果可以在规定时间内抽到规定的真空度，说明被检工件没有大漏，反之有大漏则需要将工件拿下来检大漏。如果真空可以抽下来则关闭V3，然后打开V2使用工件预抽系统对工件被检件 真空 箱预 抽系统 检漏仪 氦气 检漏仪
氦质谱检漏仪测试使用规范
氦质谱检漏仪 1．本规范是氦气质谱检漏仪的使用和保养的技术指导规范 2．概述 质谱仪是在作FE测试用于检测空气中氦气分子的仪器，低温实验室的氦气质谱仪包含以下零件：主体检漏机、吸枪、卡箍、卡箍盖、真空校准漏孔、电源线。其技术参数如下： 型号：SFJ-211B 最小可检漏范围： 漏率显示范围： 吸枪长度： 探头直径： 制造标准： 渗氦型真空校准漏孔： 校准标准： 3．使用方法 a.实验之前半小时，确认机体接口、卡箍、卡箍盖连在一起并卡紧。插上电 源，打开质谱仪后面的开，让质谱仪抽真空15分钟，准备就绪后，按显示板上的停止键，松开卡箍，将校准口装到主机接口上，拧紧卡箍，按显示板上的校准键，等机子校准结束后，上面的数值与校准口上的数值一样（如有问题在校准一次，还不行则送修），则按下停止键，拆开卡箍，装上吸枪，拧紧卡箍。 b.按下检漏键，将吸枪置于空气左右上下嗅探，测试一下环境中的HE气分 子量，如果He分子量太高，则开启排风扇将实验室中的气体排出。 c.将吸枪探头置于离探源2-5mm的距离内嗅探，绕着探源走一圈，注意观 察质谱仪上的数值，记下其瞬间最高数值。也可以根据客户要求进行测试。4．注意事项 a.在使用过程中，不允许开风扇或者有引起空气流动的动作。 b.在测试进行一个小时后，应在标漏一次。 c.设备必须在停止状态下才能松开卡箍。 d.真空校准漏孔在使用时不要磕碰、用力甩动。 e.吸枪使用时不要有污垢堵住探头口，延长线不要弯折、打结。 f.每次嗅探中途停止时，应按下停止键。 g.非测试人员不得操作设备。 5．设备保养 每次使用完设备后应将机器擦拭干净、吸枪接头松开、盖上卡箍盖，用卡箍拧紧。吸枪绕好，放在设备上方，拔掉电源线，盖上透明塑料袋。将渗氦型真空校准漏孔收到专门的盒子内。