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纳米半导体材料

纳米半导体材料
纳米半导体材料

1.纳米材料?纳米材料又称为超微颗粒材料,由纳米粒子组成。纳米粒子也叫超微颗粒,一般是指尺寸在1~100 nm间的粒子。

2.纳米技术(Nanotechnology,简称Nanotech)是一门以现代科技为基础的前沿科学技术,是现代科学(量子力学、分子生物学等)和现代技术(微电子技术、计算机技术、高分辨显微术、核分析术等)相结合的产物,它在1~100nm的尺度研究利用原子、分子现象及其结构信息

3.激子(exciton):描述了一对电子与空穴由静电库仑作用相互吸引而构成的束缚态,它可被看作是存在于绝缘体,半导体和某些液体中呈电中性的准粒子;

4.量子点(Quantum Dot):是在把导带电子、价带空穴及激子在三个空间方向上束缚住的半导体纳米结构。单电子晶体管将一个微结构用隧道结与金属导线弱连结起来形成的电子器件,它利用单电子隧道效应。其中阴影线部分代表连接库仑岛与金属导线的隧道结。

4.基本元件:量子位(qubit)-“0”和“1”的状态同时实现的元件。Orion”基于一块硅芯片,包含16个量子位(qubit),可以同时表示0和1两个二元位(电子计算里不是0就是1),而每一个量子位都能模拟其他量子位的值,从而提高计算能力。

5.量子计算机的优点:(1) 计算速度快:计算速度可提高10亿倍,1个400位长的数分解成质数乘积,采用巨型机需10亿年,用量子计算机只要一年;(2) 量子位储存能力大大提高;(3) 可完成一些传统计算机无法完成的计算。高效率模拟、模拟量子系统, 40个自旋1/2粒子体系;低能耗:量子计算机计算是么正变换,是可逆的。

6.量子计算机存在的问题(1) 受环境影响大,纠错复杂;(2) 消相干效应:量子信号与外部环境发生相互作用,导致量子相关性的衰减,使相干性很难维持;(3) 克服消相干效应是量子计算机要克服的主要困难;(4) 消相干还会导致运算结果出错,如何进行量子纠错是量子计算机要克服的另一困难。

7.【碳纳米管】CNT是由呈六边形排列的碳原子构成数层到数十层的同轴圆管。层与层之间保持固定的距离,约0.34nm,直径可达1 nm。CNT 优势:? 载流子迁移率~ 100,000 cm2/Vs? 杨氏模量超过1 Tera Pascal, 跟钻石硬度差不多;3. 抗胀强度~ 200 https://www.docsj.com/doc/d210708134.html,T可以呈现金属性或半导体性,这取决与chirality.碳纳米管具有良好的导电性能,理论预测其导电性能取决于其管径和管壁的螺旋角。当CNTs的管径大于6nm时,导电性能下降;当管径小于6nm时,CNTs可以被看成具有良好导电性能的一维量子导线。石墨烯即为“单层石墨片”,是构成石墨的基本结构单元;而碳纳米管是由石墨

烯卷曲而成的圆筒结构;从性能上来看,石墨烯具有可与碳纳米管相媲美或更优异的特性碳纳米管是由多个碳原子六方点阵的同轴圆柱面套构而成的空心小管,其中石墨层可以因卷曲方式不同而具有手性。碳纳米管的直径一般为几纳米至几十纳米,长度为几至几十微米。碳纳米管可以因直径或手性的不同而呈现很好的金属导电性或半导体性。

8.【碳纳米管的特性及应用】:1. 独特的电学性能:尖端放电,场电子发射性,平面显示器2. 优异的力学性能:强度是钢的100倍,密度是钢的六分子一,增强材料,STM和AFM的针尖3. 良好的化学稳定性:500毫克单壁碳纳米管室温储氢4.2%,78.3%的储存氢在常温常压下可释放,加热完全释放,可重复利用,储氢材料

9.【压电效应】是由材料中的力学形变而导致的电荷极化的效应,它是实现力电耦合和传感的重要物理过程。世界上最小的发电装置—纳米发电机纳米发电机发电效率可达到30%ZnO同时具有半导体和压电性能,当用导电AFM针尖去弯曲ZnO纳米线时,输入机械能,可以使纳米线压缩和拉伸并在内外表面产生极化电荷。而ZnO的半导体特性可通过半导体-金属的肖特基势垒将电能暂时储存在纳米线内,然后用导电AFM探针接通这一电源,并向外界输电,从而实现纳米尺度的发电功

10.【纳米效应】1.表面效应2.小尺寸效应3.量子尺寸效应4.宏观量子隧道效应

11.【表面效应】表面效应是指纳米超微粒子的表面原子数与总原子数之比随着纳米粒子尺寸的减小而大幅度地增加,粒子的表面能及表面张力也随着增加,从而引起纳米粒子性能的变化。纳米粒子的表面原子所处的晶体场环境及结合能与内部原子有所不同,存在许多悬空键,并具有不饱和性,因而极易与其他原子相结合而趋于稳定,所以,具有很高的化学活性利用这一特性可制得具有高催化活性和产物选择性的催化剂。

12.【纳米颗粒的表面效应—活性】超微颗粒的表面具有很高的活性,在空气中金属颗粒会迅速氧化而燃烧。如果将金属铜或铝做成几个纳米的颗粒,一遇到空气就会产生激烈的燃烧,发生爆炸。如要防止自燃,可采用表面包覆或控制氧化速度,使其缓慢氧化生成一层极薄而致密的氧化层,确保表面稳定化。用纳米颗粒的粉体做成火箭的固体燃料将会有更大的推力,可以用作新型火箭的固体燃料,也可用作烈性炸药。

13.【小尺寸效应】随着颗粒尺寸的量变,在一定条件下会引起颗粒性质的质变。由于颗粒尺寸变小所引起的宏观物理性质的变化称为小尺寸效应。

14.对超微颗粒而言,尺寸变小,同时其比表面积亦显著增加,从而产生如下一系列新奇的性质。

(1)特殊的光学性质(2)特殊的热学性质(3)特殊的磁学性质(4)特殊的力学性质超微颗粒的小尺寸效应还表现在超导电性、介电性能、声学特性以及化学性能等方面。

15.小尺寸效应特殊的光学性质—颜色特殊的光学性质:当黄金被细分到小于光波波长的尺寸时,即失去了原有的富贵光泽而呈黑色。事实上,所有的金属在超微颗粒状态时都呈现为黑色。尺寸越小,颜色越黑,银白色的铂变成铂黑。由此可见,金属超微颗粒对光的反射率很低,通常可低于1%,大约几微米的厚度就能完全消光。利用这个特性可以作为高效率的光热、光电等转换材料,可以高效率地将太阳能转变为热能、电能。也有可能应用于红外敏感原件、红外隐身技术等。

16.【超微纳米颗粒的不稳定性】超微颗粒的表面与大块物体的表面是十分不同的。若用高倍率电子显微镜对金超微颗粒(直径2nm)进行观察,发现这些颗粒没有固定的形态,随着时间的变化会自动形成各种形状(如立方八面体,十面体、二十面体等),它既不同于一般固体,有不同于液体,是一种准固体。在电子显微镜的电子束照射下,表面原子仿佛进入了沸腾状态,尺寸大于10nm后才看不到这种颗粒结构的不稳定性。

17.【纳米微粒的熔点降低】纳米微粒的熔点比常规粉体低得多。由于颗粒小,纳米微粒的表面能高,表面原子数多,这些原子近邻配位不全,纳米微粒间是一种非共价相互作用,活性大,纳米粒子熔化时所增加的内能小得多,这就使得纳米微粒的熔点急剧下降。

18.【量子尺寸效应】微粒尺寸下降到一定值时,费米能级附近的电子能级由准连续能级变为分立能级,吸收光谱向短波方向移动,这种现象称为量子尺寸效应。

19.【宏观量子隧道效应】隧道效应是基本的量子现象之一,即当微观粒子的总能量小于势垒高度时,该粒子仍能穿越这一势垒。近年来,人们发现一些宏观量如微颗粒的磁化强度、量子相干器件中的磁通量及电荷也具有隧道效应,他们可以穿越宏观系统的势阱而产生变化,故称之为宏观量子隧道效应。

20.【纳米材料的制备技术】实际上,一方面纳米加工技术是纳米科学的重要基础,另一方面纳米加工技术中包含了许多人们尚未认识清楚的纳米科学问题。在纳米世界内,所有的加工都必须在原子尺寸的层面上考虑一、【物理方法】1真空冷凝法用真空蒸发、加热、高频感应等方法使原料气化或形成等粒子体,然后骤冷。其特点纯度高、结晶组织好、粒度可控,但技术设备要求高。2物理粉碎法通过机械粉碎、电火花爆炸等方法得到纳米粒子。其特点操作简单、成本低,但产品纯度低,颗粒分布不均匀。3机械球磨法采用球磨方法,控制适当的条件得到纯元素、合金或复合材料的纳

米粒子。其特点操作简单、成本低,但产品纯度低,颗粒分布不均匀。二、【化学方法】1 .化学沉淀法a) 共沉淀法b) 均匀沉淀法c) 多元醇沉淀法d) 沉淀转化法2. 化学还原法a) 水溶液还原法b)多元醇还原法c) 气相还原法d) 碳热还原法3.溶胶-凝胶法溶胶-凝胶法广泛应用于金属氧化物纳米粒子的制备。前驱物用金属醇盐或非醇盐均可。方法实质是前驱物在一定条件下水解成溶胶,再制成凝胶,经干燥纳米材料热处理后制得所需纳米粒子。溶胶-凝胶法可以大大降低合成温度。用无机盐作原料,价格相对便宜。4.水热法水热法是在高压釜里的高温、高压反应环境中,采用水作为反应介质,使得通常难溶或不溶的物质溶解,反应还可进行重结晶。

21.【水热技术具有两个特点】,一是其相对低的温度,二是在封闭容器中进行,避免了组分挥发。水热条件下粉体的制备有水热结晶法、水热合成法、水热分解法、水热脱水法、水热氧化法、水热还原法等。近年来还发展出电化学热法以及微波水热合成法。前者将水热法与电场相结合,而后者用微波加热水热反应体系。与一般湿化学法相比较,水热法可直接得到分散且结晶良好的粉体,不需作高温灼烧处理,避免了可能形成的粉体硬团聚。

22.5【溶剂热合成法用有机溶剂代替水作介质】,采用类似水热合成的原理制备纳米微粉。非水溶剂代替水,不仅扩大了水热技术的应用范围,而且能够实现通常条件下无法实现的反应,包括制备具有亚稳态结构的材料。苯由于其稳定的共轭结构,是溶剂热合成的优良溶剂,最近成功地发展成苯热合成技术,溶剂加压热合成技术可以在相对低的温度和压力下制备出通常在极端条件下才能制得的、在超高压下才能存在的亚稳相。

23.【.微乳液法微乳液】通常是由表面活性剂、助表面活性剂(通常为醇类)、油类(通常为碳氢化合物)组成的透明的、各向同性的热力学稳定体系。微乳液中,微小的“水池”为表面活性剂和助表面活性剂所构成的单分子层包围成的微乳颗粒,其大小在几至几十个纳米间,这些微小的“水池”彼此分离,就是“微反应器”。它拥有很大的界面,有利于化学反应。这显然是制备纳米材料的又一有效技术。与其它化学法相比,微乳法

24.【模板合成法】利用基质材料结构中的空隙作为模板进行合成。结构基质为多孔玻璃、分子筛、大孔离子交换树脂等。例如将纳米微粒置于分子筛的笼中,可以得到尺寸均匀,在空间具有周期性构型的纳米材料。

25.【.电解法此法】包括水溶液电解和熔盐电解两种。用此法可制得很多用通常方法不能制备或难以制备的金属超微粉,尤其是负电性很大的金属粉末。还可制备氧化物超微粉。采用加有机溶剂于

电解液中的滚筒阴极电解法,制备出金属超微粉。滚筒置于两液相交界处,跨于两液相之中。当滚筒在水溶液中时,金属在其上面析出,而转动到有机液中时,金属析出停止,而且已析出之金属被有机溶液涂覆。

26.【纳米晶金属电导的尺寸效应】在一般电场情况下,金属和半导体的导电均服从欧姆定律,稳定电流密度与外加电场成正比,纳米材料电阻率的表达式由固体物理可知,在完整晶体中,电子是在周期性势场中运动,电子的稳定状态是布洛赫波描述的状态,这时不存在产生阻力的微观结构。对于不完整晶体,晶体中的杂质、缺陷、晶面等结构上的不完整性以及晶体原子因热振动而偏离平衡位置都会导致电子偏离周期性势场。纳米材料的电导具有尺寸效应,特别是晶粒小于某一临界尺寸时,量子限制将使电导量子化(Conductance Quantization )

27.【纳米金属块体材料的电导】一般来说,纳米金属块体材料的电导随着晶粒尺寸的减小而减小而且具有负的电阻温度系数,已被实验所证实

28.【单电子效应基础知识单电子效应的定义】在低维纳米固体结构中,通过一定的控制手段,比如加偏压、门压等能操纵电子一个一个地运动,这就是单电子效应或单电子现象。

29.【量子隧穿】结中的绝缘介质足够的薄,同时起着势垒的作用由于电子具有量子属性,所以它能以一定的概率隧穿通过势垒,这一现象称作量子隧穿。若C为隧道结的电容,那么一个电子在隧穿前后引起隧道结的静电能的变化与一个电子的库仑能大体相当,即,如果隧道结的面积为,绝缘层厚度为1nm,那么将拆算成温度,大约为100K。

30.【量子遂穿的定义及描述】单电子效应的主要研究对象是超小隧道结。隧道结是由两个金属电极及夹在其间的绝缘介质构成。与通常的电容相比,隧道结中的绝缘介质足够的薄,同时起着势垒的作用。由于电子具有量子属性,所以它能以一定的概率隧穿通过势垒,这一现象称作量子隧穿。

31.【库仑导的定义及描述】:两个隧道结J1 和J2 串联在一起,其中心电极就组成一个孤立的库仑岛,J1和J2中的绝缘介质分别构成隔离库仑岛的势垒。在串联结上加上一个理想的恒流源,构成图所示的串联的双隧道结。

32.【产生库仑台阶的条件】:台阶形I-U曲线产生的条件:R2C2 >> R1C1,R1 和R2 分别为J1 和J2 的电阻,即双结不对称。台阶的高度为,为单个电子隧穿击射垒所需的平均时间。

33.【单电子现象产生的条件】:要保证隧道结的静电势远大于环境温度引起的涨落能,即e2

/(2C) >> KBT,否则单电子现象将被热起伏所淹没。因此,室温下观察单电子隧穿要求库仑岛的尺寸小至几个纳米的数量级。隧道结的电阻必须远大于电阻量子Rk= ?/e2 ≈25.8KΩ。

34.【旋转门效应】上图中,电流标度pA,其远小于稳态下库仑台阶的电流nA。由于在调控信号的控制下,一个周期内只有一个电子通过,类似于大饭店的旋转门,每转一格只允许一个人通过,故上述现象称为旋转门效应(Turnstile Effect),利用这种效应制成的器件称为量子旋转门器件35.【单电子效应的应用】根据库仑岛大小和形状的不同【单电子效应主要应用于以下几种纳米电子器件】:单电子晶体管(SET)量子点器件(QD)【共振隧穿二极管和三级管(RTD,RTT)【RTD 和RTT 具有以下特点:】高频高速工作:由于隧穿是载流子输运的最快机制之一,而且RTD活性尺度极小,决定了RTD具有非常快的工作速度和非常高的工作频率。低工作电压和低功耗:典型RTD 的工作电压为0.2~0.5V,一般工作电流为mA数量级,如果在材料生长中加入预势垒层,电流为A 数量级,可实现低功耗应用。用RTD做成的SRAM的功耗为50nW/单元。负阻为RTD和RTT的基本特点

36.【单电子器件面临的困难】目前,单电子器件应用的一个最大困难是工作温度低,为了克服这一困难,需要减小库仑岛的尺寸,减少其中所容纳的电子数。如果能将容纳的电子数由目前的500个减少到几十个,将大大提高工作温度。这就要求精细加工技术的进一步改进。可以相信,随着纳米材料和技术的发展,单电子器件的实用化已为期不远。

37.【介电常数和介电损耗//产生电极化的主要机理】介电材料或电介质是以电极化为基本电学性能的材料。

38.【电极化】,是指材料中的原子或离子的正、负电荷中心在电场作用下相对移动(产生电位移)从而导致电矩的现象。产生电极化的主要机理有:

39.【电子位移极化】:在外电场作用下原子的电子云和原子核发生相对位移。粒子位移极化:在外电场作用下正、负离子间发生相对位移。

40.【取向极化】:某些物质的分子在无外电场作用时本身正、负电荷中心就不重合,存在固有的电偶极矩。但由于热运动,分子的电偶极矩取向随机分布,总电矩为零。在外电场作用下,偶极矩部分地转向电场方向,做取向排列。

41.【自发极化】:在32种点群的晶体中,有20个点群不具有中心对称,可因弹性变形极化,因而具有压电特性,这20中点群中又有10种点群具有唯一的极轴(自发极化轴)可出现自发极化。

42.【介电损耗的定义及描述】在静电场中,电位移,其中、分别为真空和介质的相对介电常数,为电场。若介质在静电场中没有电导,则没有介电损耗。在交变电场中,电极化随着电场的变化而改变。当电场变化相对较快时,电极化就会追随不上电场变化而滞后,从而在电场和电极化间产生相位差。实际上介质中的多种极化都是一个驰豫过程,从初态到末态都要经过一定的驰豫时间。介质的这种驰豫,在交变电场中会引起介质损耗,亦称介电损耗。介电损耗用相位差的正切来表示,即介电损耗等于。在动态电场中,电位移,其中为动态电场;为动态介电常数,是与电场的角频率有关的复数,即:若介质在静电场中无损耗(无电导),则当时,上式中的第二项趋近于零,动态介电常数就趋近于静态介电常数。在交变电场中

43.【介电损耗因子为】:介电损耗与极化的驰豫过程有关。【介电常数和介电损耗】是表征介电性能的两个重要参数,它们频率和温度的变化通常用频率谱和温度谱来表示。它们的频率和温度变化通常用频率谱和温度谱来表示。

44.【纳米介电材料的介电性能】纳米介电材料具有尺寸效应和界面效应,这将较强烈地影响其介电性能。这些影响主要表现在;空间电荷引起的界面极化。由于纳米材料具有大体积分数的界面,在外电场的作用下在界面两侧可产生较强的空间电荷引起界面极化或空间电荷极化。介电常数或介电损耗具有较强的尺寸效应。随着尺寸的减小,铁电体单畴将发生由尺寸驱动的铁电-顺点相变,使自发极化减弱,局里点降低,这都将影响取向极化及介电性能。纳米介电材料的交流电导常远大于常规电介质的电导。

45.【纳米BaTiO3基材料的介电性能】BaTiO3 是一种典型的强介电材料,被誉为电子工业的支柱,广泛用于制造陶瓷电容器、电子滤波器等电子元器件。BaTiO3 为钙钛矿型结构(ABO3),由一系列共顶角的氧八面体组成,氧八面体中心是高价小半径的B位离子(钛离子),而在八面体间则为大半径、低价、配位数为12的A 位离子(钡离子)。钙钛矿结构的一个重要特点使A 位和B 位离子可用电价和半径不同的离子在相当宽的范围内单独或复合取代【介电常数的尺寸效应和温度效应】进一步细化晶粒至纳米范围能否进一步提高BaTiO3的介电常数成为人们所关注的问题之一。此外,由于纳米晶BaTiO3在晶粒小于某一临界尺寸时,在室温就能发生四方相-立方相的相变。因此,利用纳米BaTiO3尺寸效应使居里点由120℃降至室温附近可望大幅度提高BaTiO3的介电常数。46.【介电性能的提高】空气中介电损耗增大的主要原因是是电导增大带来的损耗。随着测量次数的增加或时间的延长,样品中的悬键大量减少,最后达到一个稳定空气中的介电损耗远大于真空中

的介电损耗通常

47.【激子——束缚的电子-空穴对】在价带自由运动的空穴和在导带自由运动的电子,通过库仑相互作用束缚在一起,形成束缚的电子-空穴对,就形成激子。电子和空穴复合时便发光,即以光子的形式释放能量。

48.【激子弱受限】从吸收和发光来看,激子基态能量向高能方向位移,出现激子能量的蓝移。由于电子的有效质量与电子的静止质量以及空穴有效质量与电子静止质量之比导致的附加能并不大,所以激子弱受限引起的蓝移量不大。

49.【激子中等受限】,由于电子的有效质量小,空穴的有效质量大,电子受到的量子尺寸限域作用比空穴的大得多,这种情况下,主要是电子运动受限,空穴在强受限的电子云中运动,并与电子之间发生库仑相互作用

50.【激子强受】材料中的电子和空穴运动都将明显受到限制,当r减小到一定尺寸,量子限域效应超过库仑作用,库仑作用仅仅作为微扰来处理,根据计算,量子尺寸限域产生的附加能量近似表示为:

51.【蓝移】与体材料相比,纳米微粒的吸收带普遍存在向短波方向移动,即蓝移现象。

52.【2. 红移】在有些情况下,粒径减小至纳米级时,可以观察到光吸收带相对粗晶材料呈现“红移”现象,即吸收带移向长波方向。

53.【3. 吸收带的宽化】引起纳米结构材料红外吸收带的宽化的因素主要有以下三点:颗粒大小有一个分布界面内的键长与颗粒内的键长有差别界面中的键长有一个很宽的分布

54.【超晶格】是指由交替生长两种半导体材料薄层组成的一维周期性结构,其薄层厚度的周期小于电子的平均自由程。

55.【量子阱】是指由2种不同的半导体材料相间排列形成的、具有明显量子限制效应的电子或空穴的势阱。

56.【量子线】是在两个维度上给电子体系施加量子限制,使电子仅能在一个维度上自由运动。

57.【量子点】则是在三个维度上施加量子限制,使电子体系具有类原子能级的能量状态。

58.【【纳米材料的光吸收特性】】光通过物质时,某些波长的光被物质吸收产生的光谱,叫做吸收光谱。用适当波长的光照射固体材料,可将固体材料中的电子从价带激发到导带,而在价带中留下空穴。这种光激发的电子空穴对可以以不同方式复合发射光子,在光谱上产生对应的发射峰,

59.【金属纳米颗粒的光吸收】大块金属具有不同颜色的光泽,表明它们对可见光范围各种波长光的反射和吸收能力不同。

60.【半导体纳米材料的吸收谱】由于量子尺寸效应导致能隙增大, 半导体纳米材料的吸收光谱向高能方向移动, 即吸收蓝移。同时,由于电子和空穴的运动受限, 他们之间的波函数重叠增大, 激子态振子强度增大, 导致激子吸收增强,因此很容易观察到激子吸收峰, 导致吸收光谱结构化。

61.【纳米微粒的发光机制】所谓的光致发光是指在一定波长光照射下被激发到高能级激发态的电子重新跃入低能级被空穴捕获而发光的微观过程。仅在激发过程中才发光的光发射叫荧光,而在激发停止后还继续发一定时间的光的光发射叫磷光。

62.【纳米材料的光发射特性】纳米结构材料中由于平移周期性被破坏,选择定则对纳米材料很可能不适用,在光激发下纳米态所产生的发光带是常规材料中受选择定则限制而不可能出现的发光。(1、量子限域效应使纳米材料激子发光很容易出现,激子发光带的强度随颗粒的减小而增加)。(2、在纳米微粒的表面存在着许多悬挂键、吸附类等。从而形成许多表面缺陷态。微粒受光激发后,光生载流子以极快的速度受限于表面缺陷态,产生表面态发光。)(3、纳米晶体材料中所存在的庞大的比表面、有序度很低的界面很可能为过渡族杂质偏聚提供了有利的位置,这就导致纳米材料能隙中形成杂质能级、产生杂质发光。)

63.【,半导体纳米微粒受光激发后产生电子-空穴对,电子与空穴复合发光的途径有三种情况】(1)电子和空穴直接复合,产生激子态发光。(2)通过表面缺陷态间接复合发光。(3)通过杂质能级复合发光上述三种情况相互竞争。

64.【拉曼散射】散射光谱中除了有已知的与入射光频率相同的瑞利散射光外,还存在着强度极弱的与入射光频率不同的(频率增加或减小)分子特征谱线,这一发现后来被称之为拉曼散射

65.【表面增强拉曼散射光谱】粗糙的贵金属表面在外界电磁场激发的情况下会放大增强吸附在其表面的分子拉曼散射光谱信号的一种现象。

66.【表面增强拉曼散射具有以下特点:】a) 具有极高的灵敏度。与普通拉曼散射信号相比,表而增强拉曼散射信号的强度最高可以放大到1014-1015倍。b) 与增强基底的种类有关。目前发现有表面增强效应的物种主要有金、银、铜等币族金属,过渡金属,半导体以及金属-半导体混合结构等。

c)与吸附金属表面的粗糙度、尺寸、形状等有关。d) 与探针分子有关。虽然许多分子都能被检测到SERS信号,但不同的探针分子即使在完全相同的体系中其增强因子也不相同。e) 在电化学体系

中,SERS谱峰的强度和频率与所加电极电位密切相关,电位对于同一分子不同振动模式的影响可能不同。

67.【电磁场增强机理】(1)表面等离子激元共振(Surface plasmon resonanc, SPR):该增强机理为SERS增强的最主要来源。(2)避雷针效应(lightning rod effect)(3)镜像场作用2. 化学增强机理(Chemical enhancement mechanism)电磁场理论在很大程度上可以很好的解释SERS,并且结果与分子的种类无关。但是对于一些分子在某些情况下,

68.[化学增强]简单的说指的是金属和所吸附的分子之间发生了电荷转移使分子的极化率发生变化,导致激发出的拉曼散射信号变强

69.【石墨烯最简单的制备方法(DIY)】1. 选取一块HOPG(Highly Oriented PyrolyticGraphite,高定向裂解石墨)或者普通的石墨薄片2. 用Scotch tape(普通的透明胶)粘在样品上然后撕开3. 对于石墨薄片,用另外一个透明胶带多粘几次,即可得到石墨烯4. 注意,HOPG得到的一般是单原子层,而石墨片容易获得多原子层

70.【分离石墨法】a. 将石墨泡在硫酸里,硫酸分子将渗透到原子层之间b. 用TBA分子渗透到硫酸分子之间,将石墨烯片的间距分离更大,其范德华力将减弱c. 在DSPE-mPEG/DMF溶液中超声振动一个小时,DSPE-mPEG将覆盖整个石墨烯片右边瓶子里为超声后的溶液,里面含有大量均匀的石墨烯片d, e, f分别为AFM, TEM和电子衍射斑点

71.【声子模式和拉曼光谱】单声子模式散射单声子模式散射分为谷间散射(D模,K点附近的横模)和谷内散射(D’模,Gamma点附近的纵模),它需要有缺陷来确保电子的动量守恒双声子模式散射双声子模式散射分为双谐振)和全谐振,它不需要有缺陷参与

72.【AFM & STM】区别:AFM和STM均为表征材料表面结构的方法。不同点在于,AFM的分辨率为纳米级,STM的分辨率为原子级

73.【量子霍尔效应】我们常见的霍尔效应中,霍尔电压与磁场的强度成正比。然而,二维电子气(2DEG)在低温强磁场时,其霍尔电导可表示为随着填充因子v的不同,如果v是整数,则该霍尔电导被称为整数霍尔效应,如果为分数则被称为分数霍尔效应

74.【掺杂-分子电荷转移法】电子施主分子,像TTF,能够使G模的频率软化(红移)电子受主分子,如(TCNE),能够使G模硬化(蓝移)不仅G模的位置会发生变化,其峰高也会发生变化75.【B或N取代掺杂法】B-掺杂的方法有两种用石墨电极在H2和B2H6的气氛中弧光放电对掺杂

有3%的B原子的石墨采用弧光放电N掺杂主要是在H2和C5H5N的气氛中,或者H2和NH3的气氛中放电。不管是B还是N掺杂,拉曼谱中的G带总移向更高的频率掺杂后的样品峰高上D带相对于G 带比较高,而2D带相对于G带比较低

76.【石墨烯的表面功能化和溶解性】石墨烯的表面功能化与碳纳米管的表面功能化非常相似,因为它们都是sp2杂化的C原子结构。

77.【碳纳米管CNT的能带结构】CNT的直径很小,可视为准一维分子线,它具有很强的量子效应同时,它又是由石墨烯弯曲而成,因此它除了具有类似于二维的石墨烯性质外,又会有很多自身的特殊结构【CNT的导电原理】a) CNT的导电能力随着温度的升高而下降。

78.【CNT的场发射】优点包括:a)低温低电场下可发射电子。普通的材料电场强度需要达到几千伏每微米,或者要上千度的高温,而CNT只需要几伏每微米。b)普通材料由于尖端受到离子轰击或者高电流密度的加热,其尖端容易钝化,导致发射效应消失。而CNT即使尖端被消耗掉,其剩余部分的性能跟初始尖端性能一致,还是可以继续发射

79.【CNT的拉曼特性】CNT的拉曼谱包含两个特征峰,G带和D带G带与CNT的尺寸有关,而与它的手性无关D带与CNT的缺陷有关

80.【CNT的基本反应】CNT可能发生的官能化发应有:1.在尾端或者中间接一些官能团分子2.在外面包裹一些聚合物或者生物分子3.在管内插入一些原子或者分子

81.【CNT的氧化还原反应】CNT既可以作为电子的施主,又可以作为受主,所以它可以发生氧化还原反应氧化反应一般在尖端发生,而不会在管体上发生。

82.【CNT传感器-物理传感器】物理传感器是指那些能对外界参数,如温度、压力和机械形变等敏感且能产生信号的器件CNT的机械形变会引发拉曼信号中的G带发生位移,而这个位移很容易被测量,

83.【单电子晶体管SET工作原理】

【量子隧穿效应】:电子与某一势垒碰撞时,如果势垒的厚度减薄到能够与电子的德布罗意波长相当,那么电子具有一定的概率穿过该势垒。

84.【库仑阻塞效应】:如果一个库仑岛的静电势能能级间隔比电子运动的能量大,那么该电子就难以隧穿进入该库仑岛。

85.【SET在正常工作时,必须满足两个条件:】(1) KT

工作温度为1 K左右。如果使器件工作在室温下,C应小于3 aF。(2) 总电阻R大于量子电阻Rk(Rk≈26 kΩ),这样才能避免由于量子涨落引起的波动。

86.【SET制备方法】(MBE(分子束外延)生长异质结技术STM(扫描隧道显微镜)或AFM(原子力显微镜)纳米氧化技术EBL(电子束光刻)和SOI结合技术EBL与微结构材料技术结合)(1.MBE 生长异质结技术)SET不能在较高的温度下工作,器件重复性差。(2.STM或AFM纳米氧化技术)加工时间长,探针的损耗和加工过程中环境变化使器件的重复性和稳定性受到影响。(3. EBL技术0受电子背散射的干扰,刻蚀图形的分辨率受到影响,同时曝光时间长也使其实用性受到限制。

87.【量子点器件/量子点】是准零维(quasi-zerodimensional)的纳米材料,由少量的原子构成。外观恰似一极小的点状物,粗略地说,量子点三个维度的尺寸都在100纳米(nm)以下。量子点内部电子在各方向上的运动都受到局限,所以量子局限效应(quantum confinement effect)特别显著。

88.【量子点的制造方法】1.化学溶胶法(chemical colloidalmethod):可制作复层(multilayered)量子点,过程简单,且可大量生产。量;2.自组成法)采用分子束磊晶或化学气相沉积制程,并利用晶格不匹配的原理,使量子点在特定基材表面自聚生长,可大量生产排列规则的;3.分闸法:以外加电压的方式在二维量子井平面上产生二维侷限,可控制闸极(Gate)改变量子点的形状与大小,适合用于学术研究,但无法大量生产。量子点的制备可采用分子束外延技术在各种自然表面上直接生长的方法。如在小偏角表面(vicinal surface) 超台阶面( super steps) 、高指数表面等或者在一些由人工做出的图形衬底上生长释电性。、

半导体材料课程教学大纲

半导体材料课程教学大纲 一、课程说明 (一)课程名称:半导体材料 所属专业:微电子科学与工程 课程性质:专业限选 学分: 3 (二)课程简介:本课程重点介绍第一代和第二代半导体材料硅、锗、砷化镓等的制备基本原理、制备工艺和材料特性,介绍第三代半导体材料氮化镓、碳化硅及其他半导体材料的性质及制备方法。 目标与任务:使学生掌握主要半导体材料的性质以及制备方法,了解半导体材料最新发展情况、为将来从事半导体材料科学、半导体器件制备等打下基础。 (三)先修课程要求:《固体物理学》、《半导体物理学》、《热力学统计物理》; 本课程中介绍半导体材料性质方面需要《固体物理学》、《半导体物理学》中晶体结构、能带理论等章节作为基础。同时介绍材料生长方面知识时需要《热力学统计物理》中关于自由能等方面的知识。 (四)教材:杨树人《半导体材料》 主要参考书:褚君浩、张玉龙《半导体材料技术》 陆大成《金属有机化合物气相外延基础及应用》 二、课程内容与安排 第一章半导体材料概述 第一节半导体材料发展历程 第二节半导体材料分类 第三节半导体材料制备方法综述 第二章硅和锗的制备 第一节硅和锗的物理化学性质 第二节高纯硅的制备 第三节锗的富集与提纯

第三章区熔提纯 第一节分凝现象与分凝系数 第二节区熔原理 第三节锗的区熔提纯 第四章晶体生长 第一节晶体生长理论基础 第二节熔体的晶体生长 第三节硅、锗单晶生长 第五章硅、锗晶体中的杂质和缺陷 第一节硅、锗晶体中杂质的性质 第二节硅、锗晶体的掺杂 第三节硅、锗单晶的位错 第四节硅单晶中的微缺陷 第六章硅外延生长 第一节硅的气相外延生长 第二节硅外延生长的缺陷及电阻率控制 第三节硅的异质外延 第七章化合物半导体的外延生长 第一节气相外延生长(VPE) 第二节金属有机物化学气相外延生长(MOCVD) 第三节分子束外延生长(MBE) 第四节其他外延生长技术 第八章化合物半导体材料(一):第二代半导体材料 第一节 GaAs、InP等III-V族化合物半导体材料的特性第二节 GaAs单晶的制备及应用 第三节 GaAs单晶中杂质控制及掺杂 第四节 InP、GaP等的制备及应用 第九章化合物半导体材料(二):第三代半导体材料 第一节氮化物半导体材料特性及应用 第二节氮化物半导体材料的外延生长 第三节碳化硅材料的特性及应用 第十章其他半导体材料

(整理)半导体基础知识.

1.1 半导体基础知识概念归纳 本征半导体定义:纯净的具有晶体结构的半导体称为本征半导体。 电流形成过程:自由电子在外电场的作用下产生定向移动形成电流。 绝缘体原子结构:最外层电子受原子核束缚力很强,很难成为自由电子。 绝缘体导电性:极差。如惰性气体和橡胶。 半导体原子结构:半导体材料为四价元素,它们的最外层电子既不像导体那么容易挣脱原子核的束缚,也不像绝缘体那样被原子核束缚得那么紧。 半导体导电性能:介于半导体与绝缘体之间。 半导体的特点: ★在形成晶体结构的半导体中,人为地掺入特定的杂质元素,导电性能具有可控性。 ★在光照和热辐射条件下,其导电性有明显的变化。 晶格:晶体中的原子在空间形成排列整齐的点阵,称为晶格。 共价键结构:相邻的两个原子的一对最外层电子(即价电子)不但各自围绕自身所属的原子核运动,而且出现在相邻原子所属的轨道上,成为共用电子,构成共价键。 自由电子的形成:在常温下,少数的价电子由于热运动获得足够的能量,挣脱共价键的束缚变成为自由电子。 空穴:价电子挣脱共价键的束缚变成为自由电子而留下一个空位置称空穴。 电子电流:在外加电场的作用下,自由电子产生定向移动,形成电子电流。 空穴电流:价电子按一定的方向依次填补空穴(即空穴也产生定向移动),形成空穴电流。 本征半导体的电流:电子电流+空穴电流。自由电子和空穴所带电荷极性不同,它们运动方向相反。 载流子:运载电荷的粒子称为载流子。 导体电的特点:导体导电只有一种载流子,即自由电子导电。 本征半导体电的特点:本征半导体有两种载流子,即自由电子和空穴均参与导电。 本征激发:半导体在热激发下产生自由电子和空穴的现象称为本征激发。 复合:自由电子在运动的过程中如果与空穴相遇就会填补空穴,

半导体材料导论结课复习题

半导体材料复习题 1、半导体材料有哪些特征? 答:半导体在其电的传导性方面,其电导率低于导体,而高于绝缘体。 (1)在室温下,它的电导率在103~10-9S/cm之间,S为西门子,电导单位,S=1/ρ(Ω. cm) ;一般金属为107~104S/cm,而绝缘体则<10-10,最低可达10-17。同时,同一种半导体材料,因其掺入的杂质量不同,可使其电导率在几个到十几个数量级的范围内变化,也可因光照和射线辐照明显地改变其电导率;而金属的导电性受杂质的影响,一般只在百分之几十的范围内变化,不受光照的影响。 (2)当其纯度较高时,其电导率的温度系数为正值,即随着温度升高,它的电导率增大;而金属导体则相反,其电导率的温度系数为负值。 (3)有两种载流子参加导电。一种是为大家所熟悉的电子,另一种则是带正电的载流子,称为空穴。而且同一种半导体材料,既可以形成以电子为主的导电,也可以形成以空穴为主的导电。在金属中是仅靠电子导电,而在电解质中,则靠正离子和负离子同时导电。 2、简述半导体材料的分类。 答:对半导体材料可从不同的角度进行分类例如: 根据其性能可分为高温半导体、磁性半导体、热电半导体; 根据其晶体结构可分为金刚石型、闪锌矿型、纤锌矿型、黄铜矿型半导体; 根据其结晶程度可分为晶体半导体、非晶半导体、微晶半导体, 但比较通用且覆盖面较全的则是按其化学组成的分类,依此可分为:元素半导体、化合物半导体和固溶半导体三大类。 3、化合物半导体和固溶体半导体有哪些区别。 答:由两个或两个以上的元素构成的具有足够的含量的固体溶液,如果具有半导体性质,就称为固溶半导体,简称固溶体或混晶。固溶半导体又区别于化合物半导体,因后者是靠其价键按一定化学配比所构成的。固溶体则在其固溶度范围内,其组成元素的含量可连续变化,其半导体及有关性质也随之变化。 4、简述半导体材料的电导率与载流子浓度和迁移率的关系。 答:s = nem 其中: n为载流子浓度,单位为个/cm3; e 为电子的电荷,单位为C(库仑),e对所有材料都是一样,e=1.6×10-19C 。 m为载流子的迁移率,它是在单位电场强度下载流子的运动速度,单位为cm2/V.s; 电导率s的单位为S/cm(S为西门子)。 5、简述霍尔效应。 答:将一块矩形样品在一个方向通过电流,在与电流的垂直方向加上磁场(H),那么在样品的第三个方向就可以出现电动势,称霍尔电动势,此效应称霍尔效应。 6、用能带理论阐述导体、半导体和绝缘体的机理。 答:按固体能带理论,物质的核外电子有不同的能量。根据核外电子能级的不同,把它们的能级划分为三种能带:导带、禁带和价带(满带)。 在禁带里,是不允许有电子存在的。禁带把导带和价带分开,对于导体,它的大量电子处于导带,能自由移动。在电场作用下,成为载流子。因此,导体载流子的浓度很大。 对绝缘体和半导体,它的电子大多数都处于价带,不能自由移动。但在热、光等外界因素的作用下,可以使少量价带中的电子越过禁带,跃迁到导带上去成为载流子。 绝缘体和半导体的区别主要是禁的宽度不同。半导体的禁带很窄,(一般低于3eV),绝缘体的禁带宽一些,电子的跃迁困难得多。因此,绝缘体的载流子的浓度很小。导电性能很弱。实际绝缘体里,导带里的电子

半导体工艺及芯片制造技术问题答案(全)

常用术语翻译 active region 有源区 2.active ponent有源器件 3.Anneal退火 4.atmospheric pressure CVD (APCVD) 常压化学气相淀积 5.BEOL(生产线)后端工序 6.BiCMOS双极CMOS 7.bonding wire 焊线,引线 8.BPSG 硼磷硅玻璃 9.channel length沟道长度 10.chemical vapor deposition (CVD) 化学气相淀积 11.chemical mechanical planarization (CMP)化学机械平坦化 12.damascene 大马士革工艺 13.deposition淀积 14.diffusion 扩散 15.dopant concentration掺杂浓度 16.dry oxidation 干法氧化 17.epitaxial layer 外延层 18.etch rate 刻蚀速率 19.fabrication制造 20.gate oxide 栅氧化硅 21.IC reliability 集成电路可靠性 22.interlayer dielectric 层间介质(ILD) 23.ion implanter 离子注入机 24.magnetron sputtering 磁控溅射 25.metalorganic CVD(MOCVD)金属有机化学气相淀积 26.pc board 印刷电路板 27.plasma enhanced CVD(PECVD) 等离子体增强CVD 28.polish 抛光 29.RF sputtering 射频溅射 30.silicon on insulator绝缘体上硅(SOI)

半导体纳米材料的光学性能及研究进展

?综合评述? 半导体纳米材料的光学性能及研究进展Ξ 关柏鸥 张桂兰 汤国庆 (南开大学现代光学研究所,天津300071) 韩关云 (天津大学电子工程系,300072) 摘要 本文综述了近年来半导体纳米材料光学性能方面的研究进展情况,着重介绍了半导体纳米材料的光吸收、光致发光和三阶非线性光学特性。 关键词 半导体纳米材料;光学性能 The Optica l Properties and Progress of Nanosize Sem iconductor M a ter i a ls Guan B ai ou Zhang Gu ilan T ang Guoqing H an Guanyun (Institute of M odern Op tics,N ankaiU niversity,T ianjin300071) Abstract T he study of nano size sem iconducto r particles has advanced a new step in the understanding of m atter.T h is paper summ arizes the p rogress of recent study on op tical p roperties of nano size sem icon2 ducto r m aterials,especially emphasizes on the op tical2abso rp ti on,pho to lum inescence,nonlinear op tical p roperties of nano size sem iconducto r m aterials. Key words nano size sem iconducto r m aterials;op tical p roperties 1 引言 随着大规模集成的微电子和光电子技术的发展,功能元器件越来越微细,人们有必要考察物质的维度下降会带来什么新的现象,这些新的现象能提供哪些新的应用。八十年代起,低维材料已成为倍受人们重视的研究领域。 低维材料一般分为以下三种:(1)二维材料,包括薄膜、量子阱和超晶格等,在某一维度上的尺寸为纳米量级;(2)一维材料,或称量子线,线的粗细为纳米量级;(3)零维材料,或称量子点,是尺寸为纳米量级的超细微粒,又称纳米微粒。随着维数的减小,半导体材料的电子能态发生变化,其光、电、声、磁等方面性能与常规体材料相比有着显著不同。低维材料开辟了材料科学研究的新领域。本文仅就半导体纳米微粒和由纳米微粒构成的纳米固体的光学性能及其研究进展情况做概括介绍。2 半导体纳米微粒中电子的能量状态 当半导体材料从体块减小到一定临界尺寸以后,其载流子(电子、空穴)的运动将受限,导致动能的增加,原来连续的能带结构变成准分立的类分子能级,并且由于动能的增加使得能隙增大,光吸收带边向短波方向移动(即吸收蓝移),尺寸越小,移动越大。 关于半导体纳米微粒中电子能态的理论工作最早是由AL.L.Efro s和A.L.Efro s开展的[1]。他们采用有效质量近似方法(E M A),根据微粒尺寸R与体材料激子玻尔半径a B之比分为弱受限(Rμa B,a B=a e+ a h,a e,a h分别为电子和空穴的玻尔半径)、中等受限(a h

半导体材料(精)

半导体材料 概要 半导体材料(semiconductor material) 导电能力介于导体与绝缘体之间的物质称为半导体。半导体材料是一类具有半导体性能、可用来制作半导体器件和集成电的电子材料,其电阻率在10(U-3)~10(U-9)欧姆/厘米范围内。半导体材料的电学性质对光、热、电、磁等外界因素的变化十分敏感,在半导体材料中掺入少量杂质可以控制这类材料的电导率。正是利用半导体材料的这些性质,才制造出功能多样的半导体器件。半导体材料是半导体工业的基础,它的发展对半导体技术的发展有极大的影响。半导体材料按化学成分和内部结构,大致可分为以下几类。1.元素半导体有锗、硅、硒、硼、碲、锑等。50年代,锗在半导体中占主导地位,但锗半导体器件的耐高温和抗辐射性能较差,到60年代后期逐渐被硅材料取代。用硅制造的半导体器件,耐高温和抗辐射性能较好,特别适宜制作大功率器件。因此,硅已成为应用最多的一种增导体材料,目前的集成电路大多数是用硅材料制造的。2.化合物半导体由两种或两种以上的元素化合而成的半导体材料。它的种类很多,重要的有砷化镓、磷化锢、锑化锢、碳化硅、硫化镉及镓砷硅等。其中砷化镓是制造微波器件和集成电的重要材料。碳化硅由于其抗辐射能力强、耐高温和化学稳定性好,在航天技术领域有着广泛的应用。3.无定形半导体材料用作半导体的玻璃是一种非晶体无定形半导体材料,分为氧化物玻璃和非氧化物玻璃两种。这类材料具有良好的开关和记忆特性和很强的抗辐射能力,主要用来制造阈值开关、记忆开关和固体显示器件。4.有机增导体材料已知的有机半导体材料有几十种,包括萘、蒽、聚丙烯腈、酞菁和一些芳香族化合物等,目前尚未得到应用。 特性和参数半导体材料的导电性对某些微量杂质极敏感。纯度很高的半导体材料称为本征半导体,常温下其电阻率很高,是电的不良导体。在高纯半导体材料中掺入适当杂质后,由于杂质原子提供导电载流子,使材料的电阻率大为降低。这种掺杂半导体常称为杂质半导体。杂质半导体靠导带电子导电的称N型半导体,靠价带空穴导电的称P型半导体。不同类型半导体间接触(构成PN结)或半导体与金属接触时,因电子(或空穴)浓度差而产生扩散,在接触处形成位垒,因而这类接触具有单向导电性。利

半导体纳米材料的制备方法

摘要:讨论了当前国内外主要的几种半导体纳米材料的制备工艺技术,包括物理法和化学法两大类下的几种,机械球磨法、磁控溅射法、静电纺丝法、溶胶凝胶法、微乳液法、模板法等,并分析了以上几种纳米材料制备技术的优缺点关键词:半导体纳米粒子性质;半导体纳米材料;溶胶一凝胶法;机械球磨法;磁控溅射法;静电纺丝法;微乳液法;模板法;金属有机物化学气相淀积引言 半导体材料(semiconductormaterial)是一类具有半导体性能(导电能力介于导体与绝缘体之间,电阻率约在1mΩ·cm~1GΩ·cm范围内)。相对于导体材料而言,半导体中的电子动能较低,有较长的德布罗意波长,对空间限域比较敏感。半导体材料空间中某一方向的尺寸限制与电子的德布罗意波长可比拟时,电子的运动被量子化地限制在离散的本征态,从而失去一个空间自由度或者说减少了一维,通常适用体材料的电子的粒子行为在此材料中不再适用。这种自然界不存在,通过能带工程人工制造的新型功能材料叫做半导体纳米材料。现已知道,半导体纳米粒子结构上的特点(原子畴尺寸小于100nm,大比例原子处于晶界环境,各畴之间存在相互作用等)是导致半导体纳米材料具有特殊性质的根本原因。半导体纳米材料独特的质使其将在未来的各种功能器件中发挥重要作用,半导体纳米材料的制备是目前研究的热点之一。本文讨论了半导体纳米材料的性质,综述了几种化学法制备半导体纳米材料的原理和特点。

2.半导体纳米粒子的基本性质 2.1表面效应 球形颗粒的表面积与直径的平方成正比,其体积与直径的立方成正比,故其比表面积(表面积/体积)与直径成反比。随着颗粒直径变小,比表面积将会显著增大,说明表面原子所占的百分数将会显著地增加。对直径大于0.1微米的颗粒表面效应可忽略不计,当尺寸小于0.1微米时,其表面原子百分数激剧增长,甚至1克超微颗粒表面积的总和可高达100平方米,这时的表面效应将不容忽略。 随着纳米材料粒径的减小,表面原子数迅速增加。例如当粒径为10nm 时,表面原子数为完整晶粒原子总数的20%;而粒径为1nm时,其表面原子百分数增大到99%;此时组成该纳米晶粒的所有约30个原子几乎全部分布在表面。由于表面原子周围缺少相邻的原子:有许多悬空键,具有不饱和性,易与其他原子相结合而稳定下来,故表现出很高的化学活性。随着粒径的减小,纳米材料的表面积、表面能及表面结合能都迅速增大。 超微颗粒的表面与大块物体的表面是十分不同的,若用高倍率电子显微镜对金超微颗粒(直径为2*10-3微米)进行电视摄像,实时观察发现这些颗粒没有固定的形态,随着时间的变化会自动形成各种形状(如立方八面体,十面体,二十面体多李晶等),它既不同于一般固体,又不同于液体,是一种准固体。在电子显微镜的电子束照射下,表面原子仿佛进入了“沸腾”状态,尺寸大于10纳米后才看不到这种颗粒结构的不稳定性,这时微颗粒具有稳定的结构状态。 因此想要获得发光效率高的纳米材料,采用适当的方法合成表面完好的半导体材料很重要。 2.2量子尺寸效应 量子尺寸效应--是指当粒子尺寸下降到某一数值时,费米能级附近的电子能级由准连续变为离散能级或者能隙变宽的现象。当能级的变化程度大于热能、光能、电磁能的变化时,导致了纳米微粒磁、光、声、热、电及超导特性与常规材料有显著的不同。当半导体材料从体相减小到某一临界尺寸(如与电子的德布罗意波长、电子的非弹性散射平均自由程和体相激子的玻尔半径相等)以后,其中的电子、空穴和激子等载流子的运动将受到强量子封

芯片制造-半导体工艺教程

芯片制造-半导体工艺教程 Microchip Fabrication ----A Practical Guide to Semicondutor Processing 目录: 第一章:半导体工业[1][2][3] 第二章:半导体材料和工艺化学品[1][2][3][4][5]第三章:晶圆制备[1][2][3] 第四章:芯片制造概述[1][2][3] 第五章:污染控制[1][2][3][4][5][6] 第六章:工艺良品率[1][2] 第七章:氧化 第八章:基本光刻工艺流程-从表面准备到曝光 第九章:基本光刻工艺流程-从曝光到最终检验 第十章:高级光刻工艺 第十一章:掺杂 第十二章:淀积 第十三章:金属淀积 第十四章:工艺和器件评估 第十五章:晶圆加工中的商务因素 第十六章:半导体器件和集成电路的形成 第十七章:集成电路的类型 第十八章:封装 附录:术语表

#1 第一章半导体工业--1 芯片制造-半导体工艺教程点击查看章节目录 by r53858 概述 本章通过历史简介,在世界经济中的重要性以及纵览重大技术的发展和其成为世界领导工业的发展趋势来介绍半导体工业。并将按照产品类型介绍主要生产阶段和解释晶体管结构与集成度水平。 目的 完成本章后您将能够: 1. 描述分立器件和集成电路的区别。 2. 说明术语“固态,” “平面工艺”,““N””型和“P”型半导体材料。 3. 列举出四个主要半导体工艺步骤。 4. 解释集成度和不同集成水平电路的工艺的含义。 5. 列举出半导体制造的主要工艺和器件发展趋势。 一个工业的诞生 电信号处理工业始于由Lee Deforest 在1906年发现的真空三极管。1真空三极管使得收音机, 电视和其它消费电子产品成为可能。它也是世界上第一台电子计算机的大脑,这台被称为电子数字集成器和计算器(ENIAC)的计算机于1947年在宾西法尼亚的摩尔工程学院进行首次演示。 这台电子计算机和现代的计算机大相径庭。它占据约1500平方英尺,重30吨,工作时产生大量的热,并需要一个小型发电站来供电,花费了1940年时的400, 000美元。ENIAC的制造用了19000个真空管和数千个电阻及电容器。 真空管有三个元件,由一个栅极和两个被其栅极分开的电极在玻璃密封的空间中构成(图1.2)。密封空间内部为真空,以防止元件烧毁并易于电子的====移动。 真空管有两个重要的电子功能,开关和放大。开关是指电子器件可接通和切断电流;放大则较为复杂,它是指电子器件可把接收到的信号放大,并保持信号原有特征的功能。 真空管有一系列的缺点。体积大,连接处易于变松导致真空泄漏、易碎、要求相对较多的电能来运行,并且元件老化很快。ENIAC 和其它基于真空管的计算机的主要缺点是由于真空管的烧毁而导致运行时间有限。 这些问题成为许多实验室寻找真空管替代品的动力,这个努力在1947年12月23曰得以实现。贝尔实验室的三位科学家演示了由半导体材料锗制成的电子放大器。

半导体材料

半导体材料 应用物理1001 20102444 周辉 半导体材料的电阻率界于金属与绝缘材料之间的材料。这种材料在某个温度 范围内随温度升高而增加电荷载流子的浓度,电阻率下降。由化合物构成的半导 体材料,通常是指无机化合物半导体材料。比起元素半导体材料来它的品种更多, 应用面更广。 半导体材料结构特征主要表现在化学键上。因为化合物至少由两个元素构 成,由于它们彼此间的原子结构不同,价电子必然向其中一种元素靠近,而远离 另一种元素,这样在共价键中就有了离子性。这种离子性会影响到材料的熔点、 带隙宽度、迁移率、晶体结构等。 化合物半导体的组成规律一般服从元素周期表排列的法则。对已知的化合物 半导体材料,其组成元素在同一族内垂直变换,其结果是随着元素的金属性增大 而其带隙变小,直到成为导体。反之,随着非金属性增加而其带隙变大,直至成 为绝缘体。 类别按其构成元素的数目可分为二元、三元、四元化合物半导体材料。它 们本身还可按组成元素在元素周期表中的位置分为各族化合物,如Ⅲ—V族,I —Ⅲ—Ⅵ族等。下面介绍二元化合物,其中主要的类别为Ⅲ—v族化合物半导体 材料,Ⅱ—Ⅵ族化合物半导体材料,Ⅳ—Ⅳ族化合物半导体材料。 Ⅳ—Ⅵ族化合物半导体材料。已发现具有半导体性质的有格式,GeSe,GeTe, SnO ,SnS,SnSe,SnTe,Pb0,PbS,PbSe,PbTe,其中PbO,PbS,PbSe,PbTe 2 已获重要用途。

V—Ⅵ族化合物半导体材料。已发现具有半导体性质的有Bi 2O 3 ,Bi 2 S 3 ,Bi 2 Se 3 , Bi 2Te 3 ,Sb 2 O 3 ,Sb 2 S 3 ,Sb 2 Te 3 、As 2 O 3 ,As 2 S 3 ,其中Bi 2 Te 3 ,Bi 2 Se 3 等已获实际应用。 I—Ⅵ族化合物具有半导体性质的有Cu 2 O,Cu 2 S,Ag 2 S,Ag 2 Se,Ag 2 Te等,其 中Cu 20,Cu 2 S已获应用。 三元化合物种类较多,如I—Ⅲ—Ⅵ、I—v—Ⅵ、Ⅱ—Ⅲ—Ⅵ、Ⅱ—Ⅳ—V 族等。多数具有闪锌矿、纤锌矿或黄铜矿型晶体结构,黄铜矿型结构的三元化合 物多数具有直接禁带。比较重要的三元化合物半导体有CuInSe 2,AgGaSe 2 , CuGaSe 2,ZnSiP 2 ,CdSiP 2 ,ZnGeP 2 ,CdGaS 4 ,CdlnS 4 ,ZnlnS 4 和磁性半导体。后者 的结构为AB 2X 4 (A—Mn,Co,Fe,Ni;B—Ga,In;X—S,Se)。 四元化合物研究甚少,已知有Cu 2FeSnS 4 ,Cu 2 FeSnSe 4 ,Cu 2 FeGeS 4 等。 应用化合物及其固溶体的品种繁多,性能各异,给应用扩大了选择。在光电子方面,所有的发光二极管、激光二极管都是用化合物半导体制成的,已获工业应用的有GaAs,GaP,GaAlAs,GaAsP,InGaAsP等。用作光敏元件、光探测器、光调制器的有InAsP,CdS,CdSe,CdTe,GaAs等。一些宽禁带半导体(SiC,ZnSe等)、三元化合物具有光电子应用的潜力。GaAs是制作超高速集成电路的最主要的材料。微波器件的制作是使用GaAs,InP,GaAlAs等;红外器件则用GaAs,GaAlAs,CdTe,HgCdTe,PbSnTe等。太阳电池是使用CdS,CdTe,CulnSe2,GaAs,GaAlAs等。最早的实用“半导体”是「电晶体/ 二极体」。 一、在无线电收音机及电视机中,作为“讯号放大器用。 二、近来发展「太阳能」,也用在「光电池」中。 三、半导体可以用来测量温度,测温范围可以达到生产、生活、医疗卫生、科研教学等应用的70%的领域,有较高的准确度和稳定性,分辨率可达0.1℃,甚至达到0.01℃也不是不可能,线性度0.2%,测温范围-100~+300℃,是性价比极高的一种测温元件。 其中在半导体材料中硅材料应用最广,所以一般都用硅材料来集成电路,因为硅是元素半导体。电活性杂质磷和硼在合格半导体和多晶硅中应分别低于

纳米半导体材料在微电子技术中的应用探究

纳米半导体材料在微电子技术中的应用探究 摘要 本文先简短介绍了纳米材料的几种量子效应,而后根据半导体发展国际技术路线图(ITRS)所提出的特征尺度减小给微电子技术带来的问题,重点介绍了碳纳米管和石墨烯两种有望突破物理极限束缚的新型纳米半导体材料。作为科普性的探究论文,本文没有深究物理、化学机理,而是将重点放在两者在后摩尔时代的微电子技术应用上,指出了两者在集成电路、纳电子器件甚至太赫兹技术、量子信息学中的可能应用。 关键词:碳纳米管石墨烯纳米材料微电子技术 Abstract This paper briefly introduces the quantum mechanism of nano-semiconductor-materials, and then introduces particularly Carbon Nanotube and Graphene as two possible solutions to the physical limitations to the microelectronics, proposed by the International Technology Roadmap for Semiconductors. As a paper aimed at introduction, we focus on the applications of the two materials rather than their theoretical principles and points out their possible prospects in integrated circuits, nano-microelectronic devices, Terahertz technology, and quantum information. Key words: Carbon Nanotube Graphene Nano-materials microelectronics

常用的半导体材料有哪些

常用的半导体材料有哪些? 晶圆 初入半导体行业为了尽快入门,我们必须对这个行业的主要物料做一个详细的了解,因为制造业的结构框架是人机料法环测。物料是非常关键的一部分,特别是对于半导体这类被人家卡脖子的行业更要牢记于心,尽快摆脱西方的围堵,但是基础材料这块需要长时间的积累,短期我们很难扭转当下这种憋屈的局面。 在半导体产业中,材料和设备是基石,是推动集成电路技术创新的引擎。半导体材料在产业链中处于上游环节,和半导体设备一样,也是芯片制造的支撑性行业,所有的制造和封测工艺都会用到不同的半导体材料。 半导体材料一般均具有技术门槛高、客户认证周期长、供应链上下游联系紧密、行业集中度高、技术门槛高和产品更新换代快的特点,目前高端产品市场份额多为海外企业垄断,国产化率较低,寡头垄断格局一定程度制约

了国内企业快速发展。华为事件的发生发展告诉我们半导体材料国产替代已经非常紧迫了。 半导体材料细分行业多,芯片制造工序中各单项工艺均配套相应材料。按应用环节划分,半导体材料主要可分为制造材料和封装材料。在晶圆制造材料中,硅片及硅基材料占比最高,约占31%,其次依次为光掩模板14%,电子气体14%,光刻胶及其配套试剂12%,CMP抛光材料7%,靶材3%,以及其他材料占13%。 在半导体封装材料中,封装基板占比最高,占40%。其次依次为引线框架15%、键合丝15%、包封材料13%、陶瓷基板11%、芯片粘合材料4%、以及其他封装材料2%。封装材料中的基板的作用是保护芯片、物理支撑、连接芯片与电路板、散热。陶瓷封装体用于绝缘打包。包封树脂粘接封装载体、同时起到绝缘、保护作用。芯片粘贴材料用于粘结芯片与电路板。封装方面相对难度要低一点,所以我们国家的半导体企业主要集中在封测这一后工艺领域。 半导体材料中前端材料市场增速远高于后端材料,前端材料的增长归功于各种前端技术的积极使用,如极紫外(EUV)曝光,原子层沉积(ALD)和等离子体化学气相沉积(PECVD)等。

半导体制造工艺流程

半导体制造工艺流程 N型硅:掺入V族元素--磷P、砷As、锑Sb P型硅:掺入III族元素—镓Ga、硼B PN结: 半导体元件制造过程可分为 前段(FrontEnd)制程 晶圆处理制程(WaferFabrication;简称WaferFab)、 晶圆针测制程(WaferProbe); 後段(BackEnd) 构装(Packaging)、 测试制程(InitialTestandFinalTest) 一、晶圆处理制程 晶圆处理制程之主要工作为在矽晶圆上制作电路与电子元件(如电晶体、电容体、逻辑闸等),为上述各制程中所需技术最复杂且资金投入最多的过程,以微处理器(Microprocessor)为例,其所需处理步骤可达数百道,而其所需加工机台先进且昂贵,动辄数千万一台,其所需制造环境为为一温度、湿度与含尘(Particle)均需控制的无尘室(Clean-Room),虽然详细的处理程序是随著产品种类与所使用的技术有关;不过其基本处理步骤通常是晶圆先经过适当的清洗(Cleaning)之後,接著进行氧化(Oxidation)及沈积,最後进行微影、蚀刻及离子植入等反覆步骤,以完成晶圆上电路的加工与制作。 二、晶圆针测制程 经过WaferFab之制程後,晶圆上即形成一格格的小格,我们称之为晶方或是晶粒(Die),在一般情形下,同一片晶圆上皆制作相同的晶片,但是也有可能在同一片晶圆上制作不同规格的产品;这些晶圆必须通过晶片允收测试,晶粒将会一一经过针测(Probe)仪器以测试其电气特性,而不合格的的晶粒将会被标上记号(InkDot),此程序即称之为晶圆针测制程(WaferProbe)。然後晶圆将依晶粒为单位分割成一粒粒独立的晶粒 三、IC构装制程 IC構裝製程(Packaging):利用塑膠或陶瓷包裝晶粒與配線以成積體電路目的:是為了製造出所生產的電路的保護層,避免電路受到機械性刮傷或是高溫破壞。 半导体制造工艺分类 半导体制造工艺分类 一双极型IC的基本制造工艺: A在元器件间要做电隔离区(PN结隔离、全介质隔离及PN结介质混合隔离)ECL(不掺金)(非饱和型)、TTL/DTL(饱和型)、STTL(饱和型)B在元器件间自然隔离 I2L(饱和型) 半导体制造工艺分类 二MOSIC的基本制造工艺: 根据栅工艺分类 A铝栅工艺 B硅栅工艺

半导体材料的分类及应用

半导体材料的分类及应用

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半导体材料的分类及应用 能源、材料与信息被认为是当今正在兴起的新技术革命的三大支柱。材料方面, 电子材料的进展尤其引人注目。以大规模和超大规模集成电路为核心的电脑的问世极大地推动了现代科学技术各个方面的发展,一个又一个划时代意义的半导体生产新工艺、新材料和新仪器不断涌现, 并迅速变成生产力和生产工具,极大地推动了集成电路工业的高速发展。半导体数字集成电路、模拟集成电路、存储器、专用集成电路和微处理器,无论是在集成度和稳定可靠性的提高方面, 还是在生产成本不断降低方面都上了一个又一个新台阶,有力地促进了人类在生物工程、航空航天、工业、农业、商业、科技、教育、卫生等领域的全面发展, 也大大地方便和丰富了人们的日常生活。半导体集成电路的发展水平, 是衡量一个国家的经济实力和科技进步的主要标志之一, 然而半导体材料又是集成电路发展的一个重要基石。“半体体材料”作为电子材料的代表,在生产实践的客观需求刺激下, 科技工作者已经发现了数以千计的具有半导体特性的材料, 并正在卓有成效在研究、开发和利用各种具有特殊性能的材料。 1 元素半导体 周期表中有12 种具有半导体性质的元素( 见下表) 。但其中S、P、As、Sb 和I 不稳定,易发挥; 灰Sn在室温下转变为白Sn, 已金属;B、C的熔点太高, 不易制成单晶; T e 十分稀缺。这样只剩下Se、Ge 和Si 可供实用。半导体技术的早期( 50 年代以前) 。

半导体纳米材料研究进展与应用

半导体纳米材料研究进展与应用 摘要: 介绍了半导体纳米材料的研究进展、制备方法的若干进展和应用前景。 关键词: 半导体纳米材料研究进展应用 1引言 20 世纪是物理学推动高新技术飞速发展的世纪, 人类已从控制与利用大量微观粒子系统的时代进入了控制与利用单个微观粒子的时代。纳米技术是世纪之交发展起来的新技术, 是在0.1~100nm 尺度空间内, 研究电子、原子和分子运动规律和特性的崭新的高技术科学Z。它的目标是人类按照自己的意志直接操纵单个电子、原子等粒子, 制造出具有特定功能的产品.目前, 人们已制造了各种各样的纳米材料, 例如: 纳米金属材料、纳米半导体材料、纳米氧化物材料、纳米陶瓷材料、纳米有机材料等. 其中半导体纳米材料对未来社会信息化的产生有至关重要的影响. 2半导体纳米材料 相对于金属材料而言, 半导体中的电子动能较低, 有较长的德布罗意波长, 因而对空间的限制比较敏感. 电子的德布罗意波长入与其动能 E 的关系为入=h^2/在纸上(其中m*是半导体中电子的有效质量, h 是普朗克常量) 。当空间某一方向的尺度限制与电子的德布罗意波长可比拟时, 电子的运动就会受限, 而被量子化地限制在离散的本征态, 从而失去一个空间自由度或者说减少了一维。因此, 通常在体材料中适用的电子的粒子行为在此材料中不再适用, 这种新型的材料称为半导体低维结构, 也称为半导体纳米材料【1】。 1966 年, Fuou ler 等人[2]首次令人们信服地证实了在Si/S iO 2 界面处存在二维电子气,从此拉开了半导体低维结构研究的序幕. Si-MO SFET[3]可以认为是对载流子实现一个维度方向限制最早的固体结构.在这个系统中, 由于Si 和SiO 2 界面导带的不连续, 形成一个三角势阱, 将电子限制在其中, 使其既不能穿过氧化层, 也不能进入Si 的体内, 电子的运动被限制在二维界面内. 随着微加工技术的发展和分子束外延技术(MBE )、金属有机物化学气相沉积技术(MOCVD)、液相外延(L PE)、气相外延(V PE)等技术的应用, 人们可以制造出更多的二维电子气系统Z 它是由两种具有不同带隙的半导体材料构成, 一般要求这两种材料结构相同, 并且晶格常量接近, 以获得原子级光滑的界面。MBE 和MOCVD 的一个重要特征是可以制备量子尺寸的多层结构, 其控制精度可达单原子层量级〔4〕。这些结构可分为量子阱(QW ) 和超晶格(SL ) 。1970 年, Esak i 和T su 〔5〕在寻找具有负微分电阻的新器件时, 提出了全新的“半导体超晶格”概念Z 如果势垒层厚度足够宽, 使得相邻阱内电子波函数没有相互作用, 即被称为量子阱.反之, 如果相邻阱内电子波函数有较强的相互作用, 即相当于在晶格周期场上叠加一个多层结构的超晶格周期场, 则被称为超晶格。从此, 对半导体量子阱和超晶格等半导体微结构的材料和器件的研究成为近20 多年来半导体物理学中最重要、最活跃的研究领域之一。 1978 年D ingle〔6〕等人对异质结中二维电子气沿平行于界面的输运进行了研究, 发现了电子迁

半导体材料硅基本性质

半导体材料硅的基本性质 一.半导体材料 固体材料按其导电性能可分为三类:绝缘体、半导体及导体,它们典型的电阻率如下: 图1 典型绝缘体、半导体及导体的电导率范围 半导体又可以分为元素半导体和化合物半导体,它们的定义如下: 元素半导体:由一种材料形成的半导体物质,如硅和锗。 化合物半导体:由两种或两种以上元素形成的物质。 1)二元化合物 GaAs —砷化镓 SiC —碳化硅 2)三元化合物 As —砷化镓铝 AlGa 11 AlIn As —砷化铟铝 11 半导体根据其是否掺杂又可以分为本征半导体和非本征半导体,它们的定义分别为:本征半导体:当半导体中无杂质掺入时,此种半导体称为本征半导体。 非本征半导体:当半导体被掺入杂质时,本征半导体就成为非本征半导体。 掺入本征半导体中的杂质,按释放载流子的类型分为施主与受主,它们的定义分别为:施主:当杂质掺入半导体中时,若能释放一个电子,这种杂质被称为施主。如磷、砷就是硅的施主。 受主:当杂质掺入半导体中时,若能接受一个电子,就会相应地产生一个空穴,这种杂

质称为受主。如硼、铝就是硅的受主。 图(a)带有施主(砷)的n型硅 (b)带有受主(硼)的型硅 掺入施主的半导体称为N型半导体,如掺磷的硅。 由于施主释放电子,因此在这样的半导体中电子为多数导电载流子(简称多子),而空穴为少数导电载流子(简称少子)。如图所示。 掺入受主的半导体称为P型半导体,如掺硼的硅。 由于受主接受电子,因此在这样的半导体中空穴为多数导电载流子(简称多子),而电子为少数导电载流子(简称少子)。如图所示。 二.硅的基本性质 硅的基本物理化学性质 硅是最重要的元素半导体,是电子工业的基础材料,其物理化学性质(300K)如表1所示。 性质符号单位硅(Si) 原子序数Z 14 原子量M 原子密度个/cm3 ×1022 晶体结构金刚石型 晶格常数 a ? 熔点Tm ℃1420 密度(固/液) ρg/ cm3 介电常数ε0 个/ cm3×1010本征载流子浓度n i 本征电阻率ρi Ω·cm ×105

宽禁带半导体材料和工艺设计

宽禁带半导体材料与工艺 1.1 宽禁带半导体的概念和发展 宽禁带半导体(WBS)是自第一代元素半导体材料(Si)和第二代化合物半导体材料(GaAs、GaP、InP等)之后发展起来的第三代半导体材料。这类材料主要包括SiC(碳化硅)、C-BN(立方氮化硼)、GaN(氮化镓、)AlN(氮化铝)、ZnSe(硒化锌)以及金刚石等。 第二代半导体GaAs与Si相比除了禁带宽度增大外,其电子迁移率与电子饱和速度分别是Si的6倍和2倍,因此其器件更适合高频工作。GaAs场效应管器件还具有噪声低、效率高和线性度好的特点但相比第三代半导体GaN和SiC,它的热导率和击穿电场都不高,因此它的功率特性方面的表现不足。为了满足无线通信、雷达等应用对高频率、宽禁带、高效率、大功率器件的需要从二十世纪九十年代初开始,化合物半导体电子器件的研究重心开始转向宽禁带半导体。 我们一般把禁带宽度大于2eV的半导体称为宽禁带半导体。宽禁带半导体材料具有宽带隙、高临界击穿电场、高热导率、高载流子饱和漂移速度等特点,在高温、高频、大功率、光电子及抗辐射等方面具有巨大的应用潜力。 1.2 主要的宽禁带半导体材料 近年来,发展较好的宽禁带半导体材料主要是SiC和GaN,其中SiC的发展更早一些,碳化硅、氮化镓、硅以及砷化镓的一些参数如下图所示:

图1-1 半导体材料的重要参数 如上图所示,SiC和GaN的禁带宽度远大于Si和GaAs,相应的本征载流子浓度小于硅和砷化镓,宽禁带半导体的最高工作温度要高于第一、第二代半导体材料。击穿场强和饱和热导率也远大于硅和砷化镓。 2.1 SiC材料 纯碳化硅是无色透明的晶体。工业碳化硅因所含杂质的种类和含量不同,而呈浅黄、绿、蓝乃至黑色,透明度随其纯度不同而异。碳化硅晶体结构分为六方或菱面体的α-SiC和立方体的β-SiC(称立方碳化硅)。α-SiC由于其晶体结构中碳和硅原子的堆垛序列不同而构成许多不同变体,已发现70余种。β-SiC于2100℃以上时转变为α-SiC。 SiC是IV-IV族二元化合物半导体,也是周期表IV族元素中唯一的一种固态化合物。构成元素是Si和C,每种原子被四个异种原子所包围,形成四面体单元(图25a)。原子间通过定向的强四面体SP3键(图25b)结合在一起,并有一定程度的极化。SiC具有很强的离子共价键,离子性对键合的贡献约占12%,决定了

半导体材料有哪些

半导体材料有哪些 半导体材料有哪些 半导体材料很多,按化学成分可分为元素半导体和化合物半导体两大类。锗和硅是最常用的元素半导体;化合物半导体包括第Ⅲ和第Ⅴ族化合物(砷化镓、磷化镓等)、第Ⅱ和第Ⅵ族化合物(硫化镉、硫化锌等)、氧化物(锰、铬、铁、铜的氧化物),以及由Ⅲ-Ⅴ族化合物和Ⅱ-Ⅵ族化合物组成的固溶体(镓铝砷、镓砷磷等)。除上述晶态半导体外,还有非晶态的玻璃半导体、有机半导体等。 半导体的分类,按照其制造技术可以分为:集成电路器件,分立器件、光电半导体、逻辑IC、模拟IC、储存器等大类,一般来说这些还会被分成小类。此外还有以应用领域、设计方法等进行分类,虽然不常用,但还是按照IC、LSI、VLSI(超大LSI)及其规模进行分类的方法。此外,还有按照其所处理的信号,可以分成模拟、数字、模拟数字混成及功能进行分类的方法。 延伸 半导体材料是什么? 半导体材料(semiconductor material)是一类具有半导体性能(导电能力介于导体与绝缘体之间,电阻率约在1mΩ·cm~1GΩ·cm范围内)、可用来制作半导体器件和集成电路的电子材料。 自然界的物质、材料按导电能力大小可分为导体、半导体和绝缘体三大类。半导体的电阻率在1mΩ·cm~1GΩ·cm范围(上限按谢嘉奎《电子线路》取值,还有取其1/10或10倍的;因角标不可用,暂用当前描述)。在一般情况下,半导体电导率随温度的升高而升高,这与金属导体恰好相反。 凡具有上述两种特征的材料都可归入半导体材料的范围。反映半导体半导体材料内在基本性质的却是各种外界因素如光、热、磁、电等作用于半导体而引起的物理效应和现象,这些可统称为半导体材料的半导体性质。构成固态电子器件的基体材料绝大多数是半导体,正是这些半导体材料的各种半导体性质赋予各种不同类型半导体器件以不同的功能和特性。 半导体的基本化学特征在于原子间存在饱和的共价键。作为共价键特征的典型是在晶格结构上表现为四面体结构,所以典型的半导体材料具有金刚石或闪锌矿(ZnS)的结构。由于地球的矿藏多半是化合物,所以最早得到利用的半导体材料都是化合物,例如方铅矿

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