大小端与移位

大小端与移位

1.大端模式:数据的低字节保存在内存的高地址中

小端模式:数据的低字节保存在内存的低地址中

2.比较

小端模式：强制转换数据类型不需要调整字节内容

大端模式：符号位的判定固定为第一个字节的最高位，容易判断正负。

3.常用的X86架构cpu是小端模式，

而KEIL C51单片机为大端模式。

很多的ARM，DSP都为小端模式.

ARMv7架构的cm3默认是小端模式(但可配置)

4.java由于虚拟机的关系,屏蔽了大小端问题,需要知道的话可用ByteOrder.nativeOrder()查询

c判断大小端的2种方法

方法一：

void isBigEndian()

{

short a = 0x1122; //十六进制，一个数值占4位

char b = *(char *)&a; //通过将short(2字节)强制类型转换成char单字节，b指向a的起始字节（低字节）

if( b == 0x11) //低字节存的是数据的高字节数据

{

printf("是大端模式");

}

else

{

printf("是小端模式");

}

}

方法二：

//原理：联合体union的存放顺序是所有成员都从低地址开始存放，而且所有成员共享存储空间void isBigEndian()

{

union temp

{

short a;

char b;

}temp;

temp.a = 0x1234;

if( temp.b == 0x12 )//低字节存的是数据的高字节数据

{

printf("是大端模式");

}

else

{

printf("是小端模式");

}

}

============================================================

如果代码这样写

short a

char b

b = (char)a;

b的值和大小端是没有关系的

因为向下的类型转换时,保留的是a值的低字节部分,而不是内存中数据的低地址字节部分

对于小端模式：向下强制转换数据时,计算机不需要调整内存中的数据内容,保留a的低字节就行了

对于大端模式:向下转换后,a的低字节被保留,并且该被保留的低字节数据在内存中还要被放到合适的位置

如果是

a=b ; 这是自动向上的类型转换,向上不需要强转,数据高字节自动补0

关于移位

在x86平台, vc6中, 有 a=i<

若i是一个变量,则

移位数是n%=32,

若移位n=33, 就是移1位

若移位n=32, 就是移0位

也就是取n的低5位作为有效移位值

若i是立即数, n不会执行n%=32

例如a=(1<<33) , a=0

在keil4中的c51,左移位数最多是15位,大于15就结果为0

u16 a =1;

a|=(1<<15) a=0x8001

a|=(1<<16) a=0x0001 即1<<(16+x)结果为0 ,也就是说移位超过15就结果是0

u32 a=1;

a|=(1<<14) a=0x00004001 这个也正常

a|=(1<<16) 这个结果是1 因为1<<16=0

a|=(1<<15) a=0xffff8001

当左移后,第15位为1时,就会出现这种情况,a的高16位都是1

在mdk中没有这种情况,而且移位也没有vc中取余的情况,移位数大于31时结果为0 ============================================================

再来看一下vc6中的右移

c代码1

unsigned long a = 0x80000000;

a>>=33;

反汇编代码

10: unsigned long a = 0x80000000;

004010B8 mov dword ptr [ebp-4],80000000h

11: a>>=33;

004010C6 mov eax,dword ptr [ebp-4]

004010C9 sar eax,21h //无符号右移,也称逻辑右移,同java中的>>>

004010CC mov dword ptr [ebp-4],eax

a = 0x40000000 ,即0x80000000 sar 1

c代码2

long a = -2147483648; //32位long的最小值

a>>=33;

反汇编代码

11: long a = -2147483648;

004010B8 mov dword ptr [ebp-4],80000000h

12: a>>=33;

004010C6 mov eax,dword ptr [ebp-4]

004010C9 shr eax,21h //有符号移位,也称算术右移,同java中的>>

004010CC mov dword ptr [ebp-4],eax

a=-1073741824 ,或者说a=0xc0000000,即0x80000000 shr 1

结果表明

无符号类型数右移,高位补0,用的是sar指令

有符号类型数右移,高位补符号,用的是shr指令

移位数也是低5位有效,a=33时,相当于右移1位

在keil4中

无符号类型数右移,高位补0,有符号类型数右移,高位补符号,这一点上是一样的

右移位个数没有限制,不会对右移个数进行取余

洛伦兹力的大小和方向

洛伦兹力的大小、方向及公式 一、单项选择题 1.（09年广东理科基础）带电粒子垂直匀强磁场方向运动时，会受到洛伦兹力的作用。下列表述正确的是 （ ） A ．洛伦兹力对带电粒子做功 B ．洛伦兹力不改变带电粒子的动能 C ．洛伦兹力的大小与速度无关 D ．洛伦兹力不改变带电粒子的速度方向 2.有一束电子流沿x 轴正方向高速运动，如图所示，电子流在z 轴上的P 点处所产生的磁场方向是（ ） A 、y 轴正方向 B 、y 轴负方向 C 、z 轴正方向 D 、z 轴负方向 3.（泰州市2008届第二学期期初联考）“月球勘探者号” 进行了近距离勘探，在月球重力分布、磁场分布及元素测定方面取得了新的成果。月球上的磁场极其微弱,通过探测器拍摄电子在月球磁场中的运动轨迹,可分析月球磁场的强弱分布情况。如图是探测器通过月球表面①、②、③、④四个位置时，拍摄到的电子运动轨迹照片(尺寸比例相同)，设电子速率相同，且与磁场方向垂直，则可知磁场从强到弱的位置排列正确的是（ ） A. ①②③④ B. ①④②③ C. ④③②① D. ③④②① 4．在匀强磁场中有一带电粒子做匀速圆周运动，当它运动到M 点，突然与一不带电的静止粒子碰撞合为一体，碰撞后的运动轨迹应是图中的哪一个？（实线为原轨迹，虚线为碰后轨迹，不计粒子的重力） ( )

二、双向选择题 5．海南省海口市2010届高三调研测试如图所示,一束电子以大小不同的速率沿图示方向 飞入横截面为一正方形的匀强磁场区,在从ab 边离开磁场的电子中，下列判断正确的是 （ ） A.从b 点离开的电子速度最大 B.从b 点离开的电子在磁场中运动时间最长 C.从b 点离开的电子速度偏转角最大 D.在磁场中运动时间相同的电子,其轨迹线一定重合 6．（烟台市2008届第一学期期末考）如图所示，在x 轴上方存在磁感应强度为B 的匀强磁场，一个电子（质量为m ，电荷量为q ）从x 轴上的O 点以速度v 斜向上射入磁场中，速度方向与x 轴的夹角为45°并与磁场方向垂直.电子在磁场中运动一段时间后，从x 轴上的P 点射出磁场. 则 （ ） A ．电了在磁场中运动的时间为q B m 2π B ．电子在磁场中运动的时间为qB m π C ．OP 两点间的距离为 qB mv 2 D ．OP 两点间的距离为 qB mv 2 7．如图所示，圆形区域内有垂直纸面的匀强磁场，三个质量和电荷量都相同的带电粒子a 、 b 、 c ，以不同的速率对准圆心O 沿着AO 方向射入磁场， 其运动轨迹如右图。若带电粒子只受磁场力作用，下列说法正确的是 A ．a 粒子动能最大 B ．c 粒子速率最大 C ．c 粒子在磁场中运动时间最长 D ．它们做圆周运动的周期 8.（青岛市2008届第一次质检）一带电粒子以垂直于磁场方向的初速度飞入匀强磁场后做圆周运动，磁场方向和运动轨迹如图所示，下列情况可能的是（ ） A ．粒子带正电，沿逆时针方向运动 B ．粒子带正电，沿顺时针方向运动 C ．粒子带负电，沿逆时针方向运动 D ．粒子带负电，沿顺时针方向运动 ? B c b a T T T ==

弹力的大小和方向

弹力的大小和方向_(尤其是“弹簧模型”在不同物理情景下的综合应用) 2、摩擦力的分析与计算 3、物体析受力分析和平衡条件的应用。 1、力的合成、分解法（替代） 2、正交分解法 3、矢量三角形法 4、正、余弦定理法 5、相似三角形法 1．关于摩擦力，以下说法中正确的是（ D ） A ．运动物体可能受到静摩擦力作用，但静止物体不可能受到滑动摩擦力作用． B ．摩擦力的存在依赖于正压力，其大小与正压力成正比． C ．摩擦力的方向一定与物体的运动方向相反． D ．摩擦力的方向有可能与速度方向不在一直线上． 2．【受力分析：需要结合产生力的条件及物体的运动状态综合分析】 如图所示，物体A 和B 叠放在一起，A 靠在竖直墙面上。在力F 作用下， A 、B 均保持静止，此时物体B 的受力个数为（ C ） (A) 2个 (B) 3个 (C) 4个 (D) 5个 3. 【研究对象的选择：整体、隔离】7.在粗糙水平面上有一个三角形木块ABC,在它的两个粗糙斜面上分别放两个质量m 1和m 2的木块,m 1>m 2，如图3所示,已知三角形木块和两物体都是静止的,则粗糙水平面对三角形木块（D ） A ．有摩擦力的作用,摩擦力的方向水平向右 B ．有摩擦力的作用,摩擦力的方向水平向左 C ．有摩擦力的作用,但摩擦力的方向不能确定,因为 m 1、m 2、θ1、θ2的数值并未给出 D ．以上结论都不对 4. 五本书相叠放在水平桌面上，用水平力F 拉中间的书C 但未拉动，各书仍静止（如图）。关于它们所受摩擦力的情况，以下判断中错误．． 的是 （ B ） A ．书e 受两个摩擦力作用 B ．书b 受到一个摩擦力作用 C ．书c 受到一个摩擦力作用 D ．书a 不受摩擦力作用 5、【 法，适用于 】如图，轻绳的A 端绕过固定在天花板上的小滑轮，握在站在地上的人手中，B 端系一重为G 的小球，小球靠在固定的光滑半球的侧面上，人将小球缓缓沿球面从D 拉至顶点C 的过程中，下列判断正确的是（B ） ①人的拉力逐渐变大 ②球面对球的支持力逐渐变小 ③人的拉力逐渐变小 ④球面对球的支持力大小不变 A ．①② B ．③④ C ．①④ D ．②③ 6.【 法】如图，质量为m 的物体放在水平桌面上，在与水平方向成θ角的拉力F 作用下加速向前运动，已知物体与桌面间的动摩擦因数为μ，则下列判断正确的是（ D ） A ．物体受到的摩擦力为F ·cos θ B ．物体受到的摩擦力为μm g C ．物体对地面的压力为m g D ．物体受到地面的的支持力为m g －F ·sin θ 7.【 法】用跨过定滑轮的轻绳相连，A 的质量大于B 的质量，A 放置在水平地板上，在水平向右的外力F 作用下向右运动，与地板的摩擦因数是常数，B 物体匀减速上升。设A 受绳的拉力为T ，受地面的弹力为N ，受摩擦力为f 。以下判断正确的是（ A ） A ．T 不变，f 逐渐增大； F θ v F A B

一种光电方法测量微小位移

一种光电方法测量微小位移 摘要 高精度的测量广泛的应用于微电子、超精加工、生物工程、未来医学、航天技术、材料科学、纳米操作等高技术产业中，且成为这些领域的关键技术，也成为许多领域不断进步的制约性因素。 干涉的方法测量长度是激光在几何量测量中最重要的应用。以迈克尔逊干涉仪为代表的光波干涉法一直是公认的精密测量长度和位移的有力手段。激光的出现与发展给干涉测量长度提供了极好的相干光源，光波干涉技术测量逐渐成为科研与生产中精密测量的重要手段。但是测量方法受限于光源单色性差和人眼计数的误差，再加许多其它客观外部因素的存在，很难统计干涉条纹，从而造成很大的误差。 为了提高测量的精确度，本文采用线阵CCD为条纹记录工具，通过后台电路，对干涉条纹的图像进行分析得到微小位移量。本文的主要研究内容有： 第一、线阵CCD的结构及工作原理。 第二、迈克尔逊干涉实验的分析研究，阐明利用激光干涉测量位移量的原理，设计出简单实用的干涉测量光路。 第三、用设计的实验装置进行实际测量，并对其测量数据进行数据处理和结果分析。 最后，根据实验结果，比对和分析采用的实验方法的可行性和不足，并对后继工作提出一些需要改进和完善的地方。 关键词：微小位移，激光，干涉条纹，干涉条纹间距，线阵CCD

one ABSTRACT KEY WORDS:

目录 前言 (1) 第一章线阵CCD的数据采集系统分析 (3) §1.1 CCD的分类 (3) §1.2 CCD的工作原理 (4) §1.2.1 光电转换 (4) §1.2.2 电荷的存储 (5) §1.2.3 电荷的转移 (6) §1.2.4 电荷的检测 (7) §1.3 CCD的工作原理 (8) 第二章激光干涉的原理介绍及测量分析 (10) §2.1 激光及激光干涉 (10) §2.2 国内外关于高精度测量技术状况 (11) §2.2.1 国外现状分析 (11) §2.2.2 国内的研究现状 (12) §2.3 CCD的工作原理 (13) §2.4 用激光干涉测量位移不足分析 (15) 第三章利用干涉和线阵CCD设计微位移测量 (17) §3.1 实验测量 (17) §3.2 实验测量结果 (18) 第四章误差及影响条件分析 (20) §4.1 系统误差 (20) §4.2 余弦误差 (20) §4.3 死区误差 (20) §4.4 波长修正误差 (21) §4.5 热膨胀误差 (21) 结论 (22)

大小对纳米材料的重要性

大小对纳米材料的重要性 原文作者，Emil Roduner ， 翻译：纳米科技世界(nanoquebec),转载或者引用请注明中文来源于“纳米科技世界论坛” 众所周知，金是闪光和不易退色的贵金属。它具有面心立方结构，是非磁性的。其熔点为1336K 。但同样是金，微小颗粒的金则是不同的。当它的尺度非常小时，如10个纳米的金粒子会吸收绿光而呈现出红色的光泽。其熔点也会迅速降低。此外，这种金粒子也不再是惰性的了。2-3纳米大小的金粒子有极好的催化活性和相当不错的磁性。虽然这个大小的金粒子仍然是金属，但更小时就变为绝缘体了。金粒子的平衡相结构变为二○面对称的，可能时空心的或者光滑的多面体，具体与其大小有关。这篇科普性的评述旨在解释纳米材料特殊行为的起因。 1.引言 长期以来，我们已经接收了金刚石和石墨这两种碳的同素异性体，由于明显不同的结构和成键方式不同导致相差极大的物理化学性质的事实。十多年前，碳的另外不同结构形式的发现：富勒球（碳－60，70及其其它几种形式）和碳纳米管，一种被认为时石墨碳纸被卷成单层或多层的桶状结构，向人们展现出令人难以置信的特性。现在我们也许已经逐步接受了碳材料可能由于结构不同而性质的完全不同的事实。我们也许还在想，金就是金，铂金即是铂金。CdS 也还是CdS. 但我们不得不慢慢接受这样的事实：当样品的大小很小的时候，Emil Roduner,先在Rensselaer 工业大学(Troy, New York)获得 物理化学硕士,后获得苏黎世大学μ子素化学方面的博士学 位.1995年他获得了斯图加特大学物理化学的位置.他的研究 兴趣涵盖了自由基物理化学的所有方面,特别是燃料电池薄 膜的退化的作用,固态表面和吸附表面的再取向动力学.他另 外的特别研究兴趣有的多孔物质的行为,大小受控的纳米粒 子在沸石的行为.他编了一本纳米尺度材料方面的教科书: 大 小依赖的现象

处理器大小开端问题

所谓的大端模式，是指数据的低位（就是权值较小的后面那几位）保存在 内存的高地址中，而数据的高位，保存在内存的低地址中，这样的存储模 式有点儿类似于把数据当作字符串顺序处理：地址由小向大增加，而数据 从高位往低位放； 所谓的小端模式，是指数据的低位保存在内存的低地址中，而数据的高位保存在内存的高地址中，这种存储模式将地址的高低和数据位权有效 地结合起来，高地址部分权值高，低地址部分权值低，和我们的逻辑方法 一致。 为什么会有大小端模式之分呢？这是因为在计算机系统中，我们是以 字节为单位的，每个地址单元都对应着一个字节，一个字节为 8bit。但是在C语言中除了8bit的char之外，还有16bit的short型，32bit的long 型（要看具体的编译器），另外，对于位数大于 8位的处理器，例如16位或者32位的处理器，由于寄存器宽度大于一个字节，那么必然存在着一个如何将多个字节安排的问题。因此就导致了大端存储模式和小端存储模式。例如一个16bit的short型x，在内存中的地址为0x0010，x的值为0x1122，那么0x11为高字节，0x22为低字节。对于大端模式，就将0x11放在低地址中，即0x0010中，0x22放在高地址中，即0x0011中。小端模式，刚好 相反。我们常用的X86结构是小端模式，而KEIL C51则为大端模式。很多的ARM，DSP都为小端模式。有些ARM处理器还可以由硬件来选择是大端模式还是小端模式。 下面这段代码可以用来测试一下你的编译器是大端模式还是小端模式：short int x; char x0,x1; x=0x1122; x0=((char*)&x)[0]; //低地址单元 x1=((char*)&x)[1]; //高地址单元 若x0=0x11,则是大端; 若x0=0x22,则是小端...... 上面的程序还可以看出，数据寻址时，用的是低位字节的地址。 编辑本段linux操作系统中对大小端的判断： static union { char c[4]; unsigned long l; } endian_test = { { 'l', '?', '?', 'b' } }; #define ENDIANNESS ((char)endian_test.l) (如果ENDIANNESS=’l’表示系统为little endian,为’b’表示big endian )。 编辑本段使用C语言判断处理器的大小端 [1]int checkCPU()

大端模式与小端模式解析

大端模式与小端模式 一、概念及详解 在各种体系的计算机中通常采用的字节存储机制主要有两种： big-endian和little-endian，即大端模式和小端模式。 先回顾两个关键词，MSB和LSB： MSB:Most Significant Bit ------- 最高有效位 LSB:Least Significant Bit ------- 最低有效位 大端模式（big-edian） big-endian：MSB存放在最低端的地址上。 举例，双字节数0x1234以big-endian的方式存在起始地址 0x00002000中： | data |<-- address | 0x12 |<-- 0x00002000 | 0x34 |<-- 0x00002001 在Big-Endian中，对于bit序列中的序号编排方式如下（以双字节数0x8B8A为例）： ----+---------------------------------------------------+ bit | 00 01 02 03 04 05 06 07 | 08 09 10 11 12 13

----+MSB---------------------------------------------LSB+ val | 1 0 0 0 1 0 1 1 | 1 0 0 0 1 0 1 0 | ----+---------------------------------------------------+ = 0x8B8A 小端模式(little-endian) little-endian：LSB存放在最低端的地址上。 举例，双字节数0x1234以little-endian的方式存在起始地址 0x00002000中： | data |<-- address | 0x34 |<-- 0x00002000 | 0x12 |<-- 0x00002001 在Little-Endian中，对于bit序列中的序号编排和Big-Endian 刚好相反，其方式如下（以双字节数0x8B8A为例）： ----+---------------------------------------------------+ bit | 15 14 13 12 11 10 09 08 | 07 06 05 04 03 02

微小位移量检测系统设计

微小位移量检测系统设计 魏仲慧 1，张文新1，2，何昕1 (1.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，吉林 长春 130033 2.中国科学院研究生院 北京 100039) 摘 要: 介绍了基于激光三角测量法的微小位移量检测原理，并依据这个原理，设计了以一 维PSD 为检测元件，以FPGA 为时序逻辑控制部件，以AT89S51单片机为运算核心的微小位移量检测系统。 关键词: PSD ，信号处理 ， 微小位移 中图分类号：TN24 文献标识码：A The Design of Small Displacement Test System Wei,Zhonghui 1, Zhang,Wenxin 1，2， He,Xin 1 (1.Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, JiLin Changchun 130033 2. Graduate School of the Chinese Academy of Science, Beijing 100039) Abstract: In this paper, the test principle of small displacement is introduced based on laser triangulation technique. According to this principle, we design the test system of small displacement . One-dimensional PSD is the test component , FPGA is the control component of timer and logic, and AT89S51 is the operation core. Key words: PSD , Signal processing , Small displacement 0 引 言 随着科学技术水平和工业生产的不断发展，微小位移量的检测在表面测量、材料测量、精密机械测量等众多应用领域起着越来越重要的作用。检测微小位移量，可以采用接触式测量法和非接触式测量法。传统的接触式测量方法有很多局限性，如无法精确测量软质材料的高精度表面，测量结果受环境因素影响很大等，因此，接触式测量方法很难实现对微小位移量的高精度检测；非接触式的测量方法，由于在检测过程中不与待测物体直接接触，因此避免了上述问题对检测结果的影响。利用非接触测量方法构成的检测系统结构简单，测量精度高，目前应用广泛。 本文首先介绍了微小位移量的检测原理，并依据此原理，设计了以一维PSD 为检测元件，以FPGA 为时序逻辑控制部件，以AT89S51单片机为运算核心的微小位移量检测系统。 1 检测原理 对于微小位移量的检测，是基于激光三角测量法原理。检测原理如图所示： 光源发出的光经过透镜L 1聚焦,投射到被测物体表面上,形成光强分布均匀的光斑，一部 分反射光经成像物镜L 2成像到位置敏感探测器（PSD ）受光面上。当被测物体向上或者向光源 PSD

RAM大小对手机的影响有多大

RAM大小对手机的影响有多大 当今手机市场厮杀激烈，很多厂商为了营销需要，将机身硬件配置几乎作为全部的卖点。除了处理器（CPU），运行内存（RAM）恐怕是第二个各厂商经常提起的专业名词了。久而久之，消费者心中便形成了一个定论：RAM越大，手机配置就越高，运行就越流畅。如果你问他们配备了3GB的RAM和2GB的RAM的手机哪个更流畅，大部分消费者会脱口而出：当然是3GB的。可事实真是如此吗？ 其实如果加上一些限定条件，“RAM越大，就是手机配置越高，手机运行就越流畅”这句话还算是成立的。从最早的Android 1.0到目前最新的Android 4.4.4，系统流畅度的提升很大程度上归功于RAM的的增加——要知道，在Android1.0时代，192MB的RAM已经很屌了，而到了今天，很多品牌的旗舰机已经标配3GB的RAM了，而很多人PC的内存也不过仍为2GB…从当年系统的卡顿、不跟手、差劲的多任务处理到今天几乎极为流畅的系统体验，RAM的确是重要原因之一。难怪很多用户一味的追求RAM的高指标，但其实大多数用户对RAM 的认知只停留在了数据层面，而忽略了很多其他因素。举个例子来讲，一台RAM为1GB的手机，刷过MIUI并且在开机使用过一段时间之后，RAM余留空间便没有刷CM（原生Android OS 的修改和改进版本，可以简单理解为Android的原生版本）时余留的多。原因其实很简单：MIUI 相比CM过于臃肿，要知道，MIUI主打丰富的功能，而CM主打精简。在此提醒一些小白用户：系统运行也是要占用RAM空间的，系统占用的多了，留给用户的自然就少了。这个时候，是要有丰富功能、但却因此占据不少RAM的MIUI还是要定制项不多、但却能提供相对大内存的CM，就看你个人的喜好了。再举个例子，一家大厂商生产的手机和一家不知名的小厂商生产的手机同样搭配了1G的RAM，哪个会更流畅相信大家心中都有数，之所以造成的结果，除了硬件搭配的协调性以外，大厂商对系统出色的优化也是很重要的一个方面，甚至是在相同空间RAM下，大厂商生产的手机比小厂商的手机运行更为流畅的主要原因。回到本段开头，如果加上“同样的系统乃至相同级别的优化”、“针对RAM的升级，其他核心元器件协调性的升级”这两句限定语，“RAM越大，就是手机配置越高，手机运行就越流畅”这句话便严谨了许多。 说了这么多，其实我们更多的是对于Android系手机纵向的对比，但手机操作系统并不是只有Android一个。ios、wp也是很出色的手机操作系统，所以接下里我们重点是横向对比，看一下RAM大小对于搭载不同操作系统的手机各有什么影响。在此需要解释一点的就是，鉴于Android、ios、wp几乎完全占领移动操作系统的市场份额，所以在此对于其他小众的操作系统便不再赘述。 相比Android机型动辄几万分的跑分相比，我们似乎很少听闻iPhone以及Windows Phone 跑了多少多少分，更多时候我们听到的对于iPhone以及Windows Phone的评价词汇是“流畅”、“用户体验”等。难道Andoid就没有流畅性及出色的用户体验吗？显然不是，但是因为种种原因，我们更习惯用跑分衡量一台Android设备的好坏，这时候，即使是用大拇指我们也能想到为什么配备了更大空间RAM的手机会更受一些用户青睐，但高分就一定意味着好的用户体验或者系统流畅性吗？当然也不是，常识告诉我们，一台RAM为1GB的Android 手机在大多情况下流畅性还不如配备了512MB RAM的iPhone4s或者Windows Phone流畅。所以我们很轻易地便得出这样一个结论：RAM大小对手机的影响和操作系统也有关系，总结一下就是，Android由于系统层面的原因，需要更大的RAM空间来保证其流畅运行，而ios 和wp则好得多，即使RAM较小，系统也不会出现在Android低端机上的明显卡顿。 综上,RAM对手机的影响绝非小白用户想的那么简单,在今天硬件实行浮夸风的情况下,我们还是建议各厂商重系统优化,毕竟软件才是连接人和硬件的载体。

深入浅出大端和小端

深入浅出大端和小端 文章一： 端模式（Endian）的这个词出自Jonathan Swift书写的《格列佛游记》。这本书根据将鸡蛋敲开的方法不同将所有的人分为两类，从圆头开始将鸡蛋敲开的人被归为Big Endian，从尖头开始将鸡蛋敲开的人被归为Littile Endian。小人国的内战就源于吃鸡蛋时是究竟从大头（Big-Endian）敲开还是从小头（Little-Endian）敲开。在计算机业Big Endian和Little Endian也几乎引起一场战争。在计算机业界，Endian表示数据在存储器中的存放顺序。下文举例说明在计算机中大小端模式的区别。 如果将一个32位的整数0x12345678存放到一个整型变量（int）中，这个整型变量采用大端或者小端模式在 内存中的存储由下表所示。为简单起见，本书使用OP0表示一个32位数据的最高字节MSB（Most Significant Byte），使用OP3表示一个32位数据最低字节LSB（Least Significant Byte）。 地址偏移大端模式小端模式 0x0012（OP0）78（OP3） 0x0134（OP1）56（OP2） 0x0256（OP2）34（OP1） 0x0378（OP3）12（OP0） 如果将一个16位的整数0x1234存放到一个短整型变量（short）中。这个短整型变量在内存中的存储在大小端 模式由下表所示。 地址偏移大端模式小端模式 0x0012（OP0）34（OP1） 0x0134（OP1）12（OP0） 由上表所知，采用大小模式对数据进行存放的主要区别在于在存放的字节顺序，大端方式将高位存放在低地址，小端方式将 高位存放在高地址。采用大端方式进行数据存放符合人类的正常思维，而采用小端方式进行数据存放利于计算机处理。到目前为止，采用大端或者小端进行数据存 放，其孰优孰劣也没有定论。 有的处理器系统采用了小端方式进行数据存放，如Intel的奔腾。有的处理器系统采用了大端方式进行数据存放，如 IBM半导体和Freescale的PowerPC处理器。不仅对于处理器，一些外设的设计中也存在着使用大端或者小端进行数据存放的选择。 因此在一个处理器系统中，有可能存在大端和小端模式同时存在的现象。这一现象为系统的软硬件设计带来了不小的麻烦， 这要求系统设计工程师，必须深入理解大端和小端模式的差别。大端与小端模式的差别体现在一个处理器的寄存器，指令集，系统总线等各个层次中。 1.1.1 从软件的角度理解端模式

安培力的大小及方向

安培力的大小及方向 一、单项选择题 1、如图所示的四个图中，分别标明了通电导线在磁场中的电流方向、磁场方向以及通电导线所受磁场力的方向，其中正确的是( ). 2、如图所示，通电导线MN 在纸面内从a 位置绕其一端M 转至b 位置时，通电导线所受安培力的大小变化情况是( ). A.变小 B.不变 C.变大 D.不能确定 3、如图,两根平行放置的长直导线a 和b 通有大小分别为I 和2I 、方 向相同的电流,a 受到的磁场力大小为F,当加入一与导线所在平面垂直的匀强磁场后,a 受到 的磁场力为零,则此时b 受到的磁场力大小为（ ） A.F B.2F C.3F D.4F 4、如图所示，在竖直向下的匀强磁场中，有两根竖直放置的平 行导轨AB 、CD ，导轨上放有质量为m 的金属棒MN ，棒与导轨间的动摩擦因数为μ，现从t ＝0时刻起，给棒通以图示方向的电流，且电流大小与时间成正比，即I ＝kt ，其中k 1为正恒量．若金属棒与导轨始终垂直，则如图7所示的表示棒所受的摩擦力随时间变化的四幅图中，正确的是( ) 二、双项选择题 5、长度为0.20m 通有2.0A 电流的直导线，在磁感应强度为0.15T 的匀强磁场中所受的安培力大小可能为（ ） A ．0N B ．1.0N C ．0.10N D ．0.010N 6、如图所示，直导线处于足够大的匀强磁场中，与磁感线成θ=30°角，导线中通过的 电流为I ，为了增大导线所受的磁场力，可采取下列四种办法，其中不正确的是（ ） A ．减小电流I B ．增加直导线的长度 C ．使导线在纸面内顺时针转30° D ．使导线在纸面内逆时针转60° 7、如图，质量为m 、长为L 的直导线用两绝缘细线悬挂于OO ′，并处于匀强磁场中。当导线中通以沿x 正方向的电流I ，且导线保持静止时，悬线与竖直方向夹角为θ。则磁感应强度方向和大小可能为 A ．z 正向，tan mg IL θ B ．y 正向，mg IL C ．z 负向，tan mg IL θ D ．沿悬线向上，sin mg IL θ 8、在磁感应强度为B 0、方向竖直向上的匀强磁场中，水平放置一根长通电直导线，电流的方向垂直于纸面向里．如图所示，a 、b 、c 、d 是以直导线为圆心的同一圆周上的四点，在这四点中 ( ) A ．c 、d 两点的磁感应强度大小相等 B ．a 、b 两点的磁感应强度大小相等 C ．c 点的磁感应强度的值最小 D ．a 点的磁感应强度的值最大 9、如图所示，平行金属导轨与水平面成θ角，导轨 与两相同 的定值电阻R 1和R 2相连，匀强磁场垂直穿过导轨平面。有一导体棒ab 质量为m ，棒的电阻R=0.5R 1，棒与导轨之间的动摩擦因数为μ。导体棒ab 沿导轨向上滑动，当上滑的速度为 v 时，定值电阻R 2消耗的电功率为P ，此时下列正确的是 （ ） A ．此装置因摩擦而产生的热功率为μmgvcos θ B ．此装置消耗的机械功率为 μmg vcos θ C ．导体棒受到的安培力的大小为v P 4 D ．导体棒受到的安培力的大小为 v P 8 三、计算题 10．如图6所示，ab ，cd 为两根相距2m 的平行金 属导

实验三、微小内尺度超精密测量

实验三微小内尺度超精密测量 一、实验目的 1.了解瞄准触发式测量原理； 2.掌握运用瞄准触发传感器测量微内尺度的方法； 3.了解微内尺度的应用范围。 二、实验工具 自制实验平台。如图1所示，实验装置有位置调整架、精密位移台、激光器，光纤、物镜、CCD、被测工件等。 三、实验原理 瞄准触发测量：传感器与被测件之间到达规定的相对位置时，传感器发出“已瞄准”的信号，此信号启动微小孔径测量机其他部分开始或结束工作的过程测量时通过找拐点的方法得到被测孔直径方向的一个端点，并在此点由侧头发出瞄准信号，激光干涉仪记录当前位置X1；侧头沿X轴移动到被测孔内直径方向的另一个端点，并在此点由侧头发出瞄准信号，激光干涉仪记录当前位置X2，则被D=X-X+d，其中d为测头的等效直径。 测孔的直径为21 四、实验步骤 1.在光纤一端制作微光珠； 2.调整激光器与显微物镜位置，使显微物镜出射点光源，调整与光纤 一端的相对位置，保证点光源进入光纤的光能量最多； 3.调整CCD相机、透镜及微光珠之间的相对位置，保证CCD像平面 上所成的微光珠的像位于CCD像平面中心，且成像最清晰； 4.将被测工件固定在精密位移台上，调整精密位移台，即调整被测工 件与传感器测头之间的相对位置，寻找被测工件上的微孔真的直径方向的一个端点，找到后沿反方向寻找另一个端点； 5.通过已知尺寸标定微光珠的直径； 6.对被测件进行测量； 7.计算被测件的尺寸值。 五、实验结果 1.设起始点坐标：（15.400，18.050）； 2.y向每次进给50微米，第一次寻找圆心位置： （14.911，18.050） （14.910，18.000） （14.890，17.950） （14.861，17.900） （14.853，17.850） （14.840，17.800） （14.834，17.750） （14.840，17.700）

猪饲料颗粒大小及其对猪生产性能的影响

猪饲料颗粒大小及其对猪生产性能的影响 摘要：猪饲料的颗粒大小有二种表示方法：包括饲料颗粒直径和饲料粉碎粒度(原料的粉碎程度)。饲料粉碎粒度是影响饲料品质的重要因素，进而会影响猪的生产性能。 关键词：猪颗粒饲料；猪饲料粉碎粒度；粉碎机；颗粒饲料加工；猪生产性能 1猪饲料的使用 猪的消化系统相对简单，其无法利用干草、青贮饲料或牧草中的养分。所以经常使用农场谷物为其单一的饲料来源(包括麦麸、米糠和玉米粉等)，或者将这些饲料原料与一些营养性添加剂(包括蛋白质、维生素和矿物质等)混合后制成配合饲料再进行饲喂。根据饲料形态的不同，配合饲料可分为粉料、颗粒饲料(图1)、颗粒碎粒饲料、膨化饲料、压缩饲料、液态饲料、流动性饲料及块状饲料等。 图1 猪采食颗粒饲料 猪饲料在养猪生产中发挥着多种作用。仔猪采食主要为满足生长和维持需要；成年猪采食饲料主要为满足维持需要和繁殖的需求；经消化后未用于动物生长、维持或繁殖的饲料以体脂的形式沉积于体内。 ⑴供生长需求：饲料可促进骨骼、肌肉和皮肤细胞的生长发育。 ⑵用于维持需要：饲料可提供猪正常活动和受损组织修复所需的能量。 ⑶用于繁殖需求：饲料可支持怀孕期间(从交配至生产期间)胎儿的生长发育，并且高品质的饲料有助于提高母猪乳期生产性能。 ⑷用于育肥需求：饲料可促进机体在皮下、肌肉周围和体腔内生成和沉积脂肪。2 养猪生产中颗粒饲料的使用 颗粒饲料加工技术已应用多年，并且颗粒饲料已在畜禽饲养(包括猪的饲养)中得到广泛的应用。猪的颗粒饲料可由单一的饲料或配制的全价饲料通过压制技术制成，制成的颗粒饲料通常呈圆筒形，且有不同的大小。 2.1 颗粒饲料对猪生产性能的有利影响

大端存储与小端存储的区别

大端格式： 在这种格式中，字数据的高字节存储在低地址中，而字数据的低字节则存放在高地址中，如图2.1所示： 小端格式： 与大端存储格式相反，在小端存储格式中，低地址中存放的是字数据的低字节，高地址存放的是字数据的高字节。如图2.2所示： 请写一个C函数，若处理器是Big_endian的，则返回0；若是Little_endian的，则返回1 解答： int checkCPU( ) { { union w { int a; char b; } c; c.a = 1; return(c.b ==1); } } 剖析： 嵌入式系统开发者应该对Little-endian和Big-endian模式非常了解。例如，16bit宽的数0x1234在Little-endian模式CPU内存中的存放方式（假设从地址0x4000开始存放）为： 内存地址 0x4000

0x4001 存放内容 0x34 0x12 而在Big-endian模式CPU内存中的存放方式则为： 内存地址 0x4000 0x4001 存放内容 0x12 0x34 32bit宽的数0x12345678在Little-endian模式CPU内存中的存放方式（假设从地址0x4000开始存放）为： 内存地址 0x4000 0x4001 0x4002 0x4003 存放内容 0x78 0x56 0x34 0x12 而在Big-endian模式CPU内存中的存放方式则为： 内存地址 0x4000 0x4001 0x4002 0x4003 存放内容 0x12 0x34 0x56

0x78 联合体union的存放顺序是所有成员都从低地址开始存放。 ===============附上另一段代码吧，摘自一个开源项目 ==== int big_endian (void) { union{ long l; char c[sizeof(long)]; }u; u.l = 1; return (u.c[sizeof(long) - 1] == 1); } 有时候，用C语言写程序时需要知道是大端模式还是小端模式。所谓的大端模式，是指数据的低位保存在内存的高地址中，而数据的高位，保存在内存的低地址中；所谓的小端模式，是指数据的低位保存在内存的低地址中，而数据的高位保存在内存的高地址中。为什么会有大小端模式之分呢？这是因为在计算机系统中，我们是以字节为单位的，每个地址单元都对应着一个字节，一个字节为8bit。但是在C语言中除了8bit的char之外，还有16bit的short 型，32bit的long型（要看具体的编译器），另外，对于位数大于8位的处理器，例如16位或者32位的处理器，由于寄存器宽度大于一个字节，那么必然存在着一个如果将多个字节安排的问题。因此就导致了大端存储模式和小端存储模式。例如一个16bit的short型x，在内存中的地址为0x0010，x的值为0x1122，那么0x11为高字节，0x22为低字节。对于大端模式，就将0x11放在低地址中，即0x0010中，0x22放在高地址中，即0x0011中。小端模式，刚好相反。我们常用的X86结构是小端模式，而KEIL C51则为大端模式。很多的ARM，DSP都为小端模式。有些ARM处理器还可以由硬件来选择是大端模式还是小端模式。

摩擦力大小及方向的判断

摩擦力大小及方向的判断 西峡二高0816班王峰指导教师袁卫国 在摩擦力的学习中，有下列三个问题是同学们不易弄清的：①怎样判断物体是否受到摩擦力作用；②怎样确定物体所受摩擦力的方向；③怎样计算物体所受摩擦力的大小。 1.正确理解产生摩擦力的条件 要正确分析出物体是否受摩擦力作用，就必须全面认识产生摩擦力的条件。产生摩擦力的条件有三： ①粗糙接触面。摩擦力是接触力，它只能产生在两相互接触、表面粗糙的物体之间。在理想情况下，若认为接触面“光滑”，则不考虑摩擦力的存在。 ②正压力的存在。正压力的存在是产生摩擦力的前提。如果两相互接触的物体之间无挤压作用，则接触面上的摩擦力也将为零。有些同学认为压力与物体所受重力大小相等，这是极其错误的。在不同的物理情景中，正压力的产生原因是不同的。 ③物体之间存在相对运动或相对运动趋势。 在分析物体是否受摩擦力作用时，应考虑被研究的物体相对于与之接触的物体有无相对滑动或有无相对运动的趋势。[注：所谓“相对运动趋势”的方向是指两个相互接触的物体之间，假如没有摩擦力作用时，将要发生相对滑动的方向。]例如：擦黑板时，黑板处于静止状态，但它相对于黑板擦发生了相对运动，因而黑板将受到滑动摩擦力作用。 产生摩擦力的三个条件缺一不可。物体间不接触，谈不到摩擦力；接触面“光滑”，不计摩擦力；粗糙接触的物体间有相互挤压但没有相对运动或相对运动趋势，不会产生摩擦力；有相对运动或相对运动趋势，但接触面间无压力存在，接触面上摩擦力也将为零。 2.正确应用摩擦力的计算公式 在物理问题的求解中，一些同学不能对问题作具体的分析与思考，而是生搬硬套、盲目乱用公式，从而造成求解错误。在对摩擦力的计算中就常犯这类错误。 在求解摩擦力大小之前，必须首先分析物体的运动状态，判别是滑动摩擦还是静摩擦。 对于静摩擦，静摩擦力的大小取决于物体的受力情况和运动情况，随外界其它因素的变化而变化，静摩擦力大小的取值范围为fm>(或=)f静>(或=)0 ，具体数值只能根据物体所处的状态，由力的平衡知识或牛顿运动定律求解。只有最大静摩擦力才是fm=u0N，其中u0为静摩擦因数。最大静摩擦力实际上大于滑动摩擦力，但在没有说明的情况下可以认为它们近似相等。 对于滑动摩擦，摩擦力大小的计算公式为f=uN，其中u为动摩擦因数，其值与接触面的材料以及接触面的情况（如粗糙程度）有关（课本上的动摩擦因数表上只强调了接触面的材料），而与接触面积的大小，物体运动的速度（或加速度）无关；N为两接触面间的正压力。对于滑动摩擦力来说，由于f=uN，因此，只要u一定，则f与N成正比，N的变化决定了f的变化，如果N是某个物理量（如时间t、速度v等）的函数，则f也就是该物理量的等次函数。所以，要正确求解滑动摩擦力，就必须优先确定正压力N。 当然，对于滑动摩擦力的求解，我们还可以根据物体受力情况，由力的平衡知识或牛顿定律求出。 3. 正确判定摩擦力的方向 摩擦力的效果总是起着阻碍物体相对运动的作用，其方向总与接触面相切，与物体相对运动或相对运动的趋势方向相反。但是，摩擦力的方向并不总与物体运动方向相反，它可与物体运动方向相同，还可以与物体运动方向成任意夹角。 由此可见，摩擦力方向总是阻碍物体的相对运动或相对运动趋势，而不是阻碍物体的运动。摩擦力既可以为阻力也可以为动力，我们不能由物体的运动方向来轻易确定摩擦力方向。

位移测量系统的设计

摘要 在现代工业生产过程中，常常需要测量很多不同的位移量。与此同时对位移量进行较为精确地检测，是提高控制精度的基础。因此之前所普遍采用的传统位移测量装置已经不能适应时代发展的潮流。在此情况下通过科研人员的不断努力终于研制出了数字式光电编码器,它的输入量是角位移量其输出量是相应的电脉冲,并且它有体积小，精度高的优点。故而，这次毕业设计选用的是光电编码器。 本次毕业设计是以AT89C51单片机为核心，用光电编码器来实现对位移量的精确测量，再将测量结果显示在LCD液晶显示器上。其中本次设计中所选用的是输出电压为5V的光电编码器。 本文由浅入深先介绍了一些关于位移测量的基本原理，进而阐述了各个模块的设计思路，工作过程以及显示效果。本文借鉴了一些当前较为流行的设计思想，例如硬件软件化，很好的满足了设计要求。 关键词：位移，测量，光电编码器，单片机，LCD显示器

Abstract In the control field, a variety of displacement measurements often need to be carried out. In actual industry position control domain, to increase the control precision, carries on the examination to the controlled member is accurately very important.The traditional machinery survey displacement installs has not been able to satisfy the modern production by far the need, but the digital sensor electro-optic encoder, can transform the angular displacement into with it correspondence electricity pulse output, mainly uses in the mechanical position and the velocity of whirl examination, has the precision to be high, volume small and so on characteristics, therefore this design decided that uses the electro-optical encoder to carry on the displacement to examine. This design to use the electro-optical encoder to realize the displacement survey and the simulation, realizes the survey from the exterior different displacement value and the demonstration. Makes concrete using at89C51 monolithic integrated circuit is the core, the electro-optical encoder carries on the displacement to survey, simultaneously by LCD liquid crystal display module demonstration. This design uses the electro-optical encoder output voltage is 5V, the output signal after four doubling circuit processing sends in the monolithic integrated circuit to carry on counting processing, finally sends in the LCD module demonstration. In this paper, detailed working process of displacement measurement system is started with principle of displacement measurement, and hardware circuit design and display. This paper has absorbed the idea of hardware and software to achieve with the subject required functionality. Key words:The displacement surveys, electro-optical encoder, microcontroller, LCD display module